CPO量产凸显矽光子检测难关 光焱「测试左移」先筛高风险晶粒
- 陈玉娟／新竹
AI服务器提高光互连需求，CPO走矢量产，矽光子检测也开始从元件性能确认，转向晶圆良率及封装前风险筛选。光焱表示，公司沿着既有光电量测技术往半导体制程上游推进，...
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