安立知助力村田制作所开发USB 3.2杂讯抑制解决方案

Anritsu安立知解决通讯速度降低、通讯品质下降等高频杂讯导致之问题。Anritsu

Anritsu安立知很荣幸地宣布，村田制作所（Murata Manufacturing Co., Ltd.）使用Anritsu安立知的频谱分析仪，成功解析了USB 3.2通讯过程中导致杂讯产生的机制。

USB 3.2 通讯过程中所产生的高频杂讯会导致无线区域网络（WLAN）和Bluetooth无线通讯装置的通讯速度降低、通讯品质下降等主要问题。

村田Murata建立了符合USB-IF标准组织USB 3.2 RFI系统级测试的电磁杂讯测试环境，并于该环境中使用Anritsu安立知的频谱分析仪/信号分析仪MS2830A，厘清了导致杂讯产生的机制。

Anritsu安立知致力于建立杂讯抑制解决方案，其结合了村田Murata在杂讯控制方面的专业技术和共模扼流线圈，可在保持信号完整性的同时有效抑制杂讯。