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多模LTE智能手机 安立知有效减少测试成本

  • 陈妍蓁台北

下一代 LTE 移动通讯产品有望成为新的全球标准。但是,因为在初始阶段 LTE 的服务范围有限,所以 LTE 智能手机还必须支持其他现有的 2G 和 3G 通讯技术,诸如 W-CDMA、GSM、CDMA2000 等。

因此在 LTE 和 2G/3G 移动系统之间实现 InterRAT Handover和互通,是 LTE 智能手机研发中的一项关键技术,且在Cell间移动时的连接可靠性和稳定性测试同时也是智能手机大量生产的重要部分。安立知新品MD8475A讯令测试仪,向下兼容2G/3G,支持LTE、 W-CDMA/HSPA、GSM/GPRS、CDMA2000/1x EV-DO以及TD-SCDMA/HSPA系统模拟,将成为LTE设备开发业者的最佳利器。

MD8475A可进行LTE intra/Inter-frequency cell reselection、Inter/Intra-RAT Handover、SV-LTE以及CS fallback和IPv4/IPv6 Throughput等测试,此外,针对WCDMA/GSM的测试,则承袭前身MD8470A的功能,向下支持HSPA/EGPRS的Throughput和所有建Call测试。

MD8475A搭载了最新版Wireless Network Simulator(WNS)软件,因此不须编写任何测试程序,也不用进行繁琐的设定,即可让使用者进行复杂的应用程序、通讯协定、SMS over SGs、Cell reselection和Handover测试,在除错方面,其新增了多种不同的监控程序,从RF端到IP层皆可进行实时的数据监控,此全面性的功能将可大幅降低测试和除错的时间和成本。亦支持让LTE待测物透过外部网络连到如Gmail、Kimo以及Youtube等实网中使用者会去使用到的服务,让测试环境更加的真实。

正因安立知研发LET量测技术有成,副总裁暨研发部门总经理高桥敏彦先生 (Toshihiko Takahashi) 将受邀于2012年6月5日举行的台北国际电脑展创新论坛(Computex Taipei Innovation Forum) 中之「新兴手机通讯」主题 (Track 2 – Emerging Mobile) 下,就「全球3G/LTE测量标准」一题发表演说,并介绍3G/LTE测量技术的最新发展趋势,欢迎通信技术及从事于手机芯片发展厂商参加。