SMART Modular 世迈科技推出搭载SEU 缓解技术SSD固态硬盘系列

SMART的 MP3000 PCIe/NVMe和 ME2 SATA产品系列搭载 SEU缓解技术，有効防止系统在实际应用环境中发生故障。SMART

SMART Modular 世迈科技（SMART）推出独家SEU缓解技术，用来减轻单粒子翻转 （Single-Event-Upset）对高可靠性快闪存储器系统造成的损害性影响。SMART 的 MP3000 NVMe SSD 采用SEU 缓解技术，将每百万单位的年故障率从高达 17,500 次降至不到 10 次，从而大幅减少数十万美元的潜在维护成本，并帮助确保数百小时的不间断运行时间，对于难以维修的线上部署极具效益。 

SMART Modular世迈科技Specialty Memory副总裁Satya Iyer表示，「我们符合业界标准的SATA和PCIe NVMe开机碟能从单粒子翻转导致的软错误中恢复，将年故障率降低高达 99.7%。对于部署在偏远及难以提供维修服务地点的网通和电信设备来说，SEU缓解技术提供从软错误中恢复的能力，对于要求24/7全天候不间断运行的系统至关重要 。」
 
SEU是数码系统中的「位元状态」无意间发生的变化，指的是当高能中子或α粒子随机撞击导致存储器位元（逻辑元件）翻转原本状态的现象。这些高能粒子可能来自地面或大气层外的来源，例如宇宙射线。SEU 会导致数码系统运行异常，甚至会造成整个系统崩溃。因此，若能直接透过SSD解决这些错误或异常，无需重启系统即可恢复运作，这对于维持系统运行的可靠性和持续性将发挥关键作用。
 
SEU缓解技术比其他单靠ECC错误校正技术修复内部SRAM的解决方案更有效，让SSD不仅能在无需重启主机的情况下轻松进行自身重启，还能处理内部其他元件潜在的位元翻转现象，额外减少10%故障的发生。SMART搭载SEU缓解技术的开机碟专为要求最长运行时间的应用而设计，提供60GB至1.92TB储存容量，以及商规和工业宽温规格。

ME2 SATA M.2 和mSATA SSD 采用 SEU 缓解技术，提供 60GB 至 1.92TB 的储存容量，支持商规（0°C 至 70°C）和工规宽温（-40°C 至 85°C）操作温度。M.2 2280 更搭载SafeDATA断电数据保护技术。
 
MP3000 NVMe PCIe SSD采用SEU缓解技术，提供M.2 2280、M.2 22110和E1.S外形规格， 以及80GB 至1.92TB的储存容量，支持商规（0°C 至 70°C）和工规宽温（-40°C~85°C）操作温度，同时也搭载SafeDATA断电数据保护技术。欲了解更多产品数据，请上SMART官网查询。