技鼎于SEMICON发表高端MEMS微细探针技术

技鼎微机电探针(MEMS probe)可应用在半导体前段测试，2.0 mil微机电探针头(MEMS Vertical Probe Head)影像。

有监于台湾半导体前段测试用的高端垂直式探针卡，皆须仰赖进口，主因是其上的高精度微细探针技术门槛高，台湾未能完整提供。为此技鼎(Premtek)应用开发多年、自有的微机电(MEMS)技术，成功的开发应用在垂直探针卡(Vertical Probe Card)用之高端微机电微细探针(MEMS Probe)，其具高精度、高机械强度等特色，且可完全定制化，最小的等效直径达1.0 mil。

技鼎希望本土化制造技术，可以快速解决客户技术上的问题，并协助客户创造更大的效能及效益。

本次9月2日至4日「SEMICON Taiwan 2015国际半导体展」，技鼎将展示应用在垂直探针卡(Vertical Probe Card)之微机电微细探针(MEMS Probe)、探针头(MEMS Vertical Probe Head)、及可平行测试112颗之存储器用微机电探针卡(MEMS Probe Card)、以及用于存储器测试之KGD探针卡。

展示摊位号码：M450；欢迎业界先进莅临参观指教。