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欧姆龙CT型X光自动检查系统 引领高端半导体进入精测新纪元

  • 刘中兴台北

OMRON VT-X950 CT型X光自动检查系统。OMRON
OMRON VT-X950 CT型X光自动检查系统。OMRON

日本欧姆龙株式会社(OMRON Corporation)参加2024台湾国际半导体展(SEMICON TAIWAN 2024),将于9月4~6日在台北市南港展览馆二馆四楼S区7248摊位,展示先进CT型X光自动检查系统。该集团检测系统事业部总经理渋谷和久并受邀于9月5日上午10:50于策略材料高峰论坛进行一场专题演讲。

欧姆龙此次参展,主要介绍该集团最新型半导体检查系统CT型X光自动检查系统X950,运用CT-Xray透视扫描、3D影像高速成像技术,让半导体覆晶封装等检查工程能实时监测先进封装、覆晶封装中,难以被传统视觉检测所看见的缺陷,包括好发于锡球凸块、微凸点中的气泡等。

同时藉由参展,让欧姆龙工业自动化事业中的检查事业部,能被半导体各方先进所认识,提升在「以台积电为首,亚洲台湾为中心的半导体供应链」的知名度,让「欧姆龙」与「半导体设备商」画上等号。

随着3D封装技术在各行各业的应用逐步扩大,传统2D-X光检测系统在准确判断产品良率方面已显现出局限性,这对生产效率的提升及产品质量保障带来新的挑战。同时,为应对供应链多样化需求 构建不依赖人工的自动化生产系统,和多地协同生产的稳定性需求也在日益增加。

为应对这些需求,OMRON推出三款全新CT型X光自动检查系统应运而生,结合OMRON专有控制技术与先进的影像处理技术,实现高速且高精度的检测。这些系统通过无缝控制设备的连续影像技术,与高灵敏度摄像机的结合,成功达成高分辨率、易识别的3D影像高速成像。

此外,该系统采用最先进3D检测技术,应用于医疗领域的CT扫描仪,能够高速生成精确的3D模型,使得在生产现场实现过去难以达成的在线品质检测成为可能。系统利用专属的AI技术,自动优化检测影像的条件设置,并自动生成检测程序,这一过程以前只能依赖经验丰富的工程师和技术人员来完成,现在则可通过AI技术高效实现。

OMRON凭藉在控制技术领域的深厚实力,通过「创新自动化」理念, 持续推动生产现场的效率提升,朝向可持续发展的方向迈进。展望未来,欧姆龙将基于「数码工程转型」,探索生产力的新途径,致力于实现「超越人类能力的自动化」以及「人机高级协作」,引领制造业迈向更丰富和可持续的未来发展。

商情专辑-2024 SEMICON Taiwan