Cadence助创意电子于先进FinFET制程3D堆叠芯片设计投片成功 智能应用 影音
Microchip
ST Microsite

Cadence助创意电子于先进FinFET制程3D堆叠芯片设计投片成功

  • 吴冠仪台北

创意电子成功于先进 FinFET 制程上实现复杂的3D堆叠芯片设计并完成投片。该设计采Cadence Integrity 3D-IC平台,于覆晶接合(flip-chip)封装的晶圆堆叠结构上实现Memory-on-Logic3D芯片堆叠配置。Integrity 3D-IC平台中的Cadence Integrity System Planner与Cadence Innovus设计实现系统无缝整合,让复杂设计中的晶圆对晶圆界面规划和分层芯片堆叠得以实现。这款晶圆堆叠WoW设计已成功的通过首次硅片验证。

针对WoW 3D堆叠应用,Integrity 3D-IC平台可提供芯片上以及芯片外的跨芯片的时序分析、电网规划、IR 和热分析以及无缝接轨物理验证。为完成投片成功,创意电子采用特别为处理跨芯片3D规划和针对系统级分析的整合分析工具 - Integrity 3D-IC平台。规划完成后,3D堆叠芯片在Innovus设计实现系统中全面实现设计,并以Voltus IC电源完整性解决方案执行IR分析,再透过Integrity 3D-IC平台进行系统级LVS验证。

创意电子设计服务资深副总经理林景源(Louis Lin)博士表示,在先进 FinFET 制程上让晶圆堆叠设计成功投片,激发真实的3D-IC技术未来潜力,又向前迈进一步。Cadence的Integrity 3D-IC平台能够在完整3D 堆叠的所有层级上无缝工作,使用最先进的技术用于跨芯片的电路分割、时序分析、封装布局和分析等自动化技术在覆晶接合封装上,实现复杂的堆叠芯片设计。Cadence 3D-IC平台解决方案的自动化和优异特性帮助我们处理高复杂、多芯片的堆叠设计,持续为先进 FinFET 制程上提供创新方案。

Cadence资深副总裁暨数码与签核事业群总经理滕晋庆(Chin-Chi Teng)博士表示,随着多芯片解决方案的研发,产业对其自动化的需求增加,更需要全面的解决方案,以因应堆叠芯片系统的芯片上以及芯片外的复杂度。Cadence 的 Integrity 3D-IC 平台整合3D-IC设计和分析功能,更结合顶尖的SoC和封装设计实现技术与系统级规划和分析工具。随着3D堆叠芯片配置产生变化,产业必须持续因应需求持续开发,而Integrity 3D-IC平台扮演了下一代3D-IC设计关键推动者,实现在功耗、效能和面积等系统驱动技术的协同与最佳化。

Cadence Integrity 3D-IC平台解决方案的自动化和特性,协助创意电子在先进FinFET制程上提供创新的多芯片堆叠设计方案,为下一代3D-IC设计开发奠定了基础。