爱德万测试推出T2000 AiR2X 气冷式SoC与电源类比测试解决方案

新一代精巧型测试机，测试资源密度倍增，支持少量多样化生产，兼容旧款无缝移转。爱德万测试

半导体测试设备大厂爱德万测试近日宣布推出新一代气冷式测试系统「T2000 AiR2X」，专为满足评估及少量多样的生产环境中，对于小型化、高成本效益测试机日益成长的需求而设。这款新系统不仅与既有的T2000测试系统完全兼容，更在维持低功耗与气冷散热的前提下，其测试资源较前一代气冷系统T2000 AiR提升了一倍。

T2000 AiR2X的问世旨在回应市场的多重需求，一方面针对T6500与T7700等旧型系列即将终止支持的汰换对策；另一方面则是满足业界对精巧型气冷测试机持续存在的升级需求。有监于全球气冷式SoC测试系统装机量庞大，新推出的T2000 AiR2X将有助于爱德万测试在持续成长的市场中，进一步巩固领先地位。

爱德万测试T2000产品部门主管足立敏明表示：「精巧的气冷式T2000 AiR2X与高密度、高针数的V93000系统，共同建构了完整的SoC测试解决方案，从气冷式应用一路延伸至大规模数码化装置，皆能全面涵盖。」

足立敏明强调，T2000 AiR2X能显着提升部署效率，简化老旧测试平台的移转流程，并在相同占地面积下，使测试资源容量翻倍；而V93000则提供先进大型SoC所需的高效能。两者相辅相成，从评估到量产阶段，皆能有效降低SoC的导入成本与环境影响，全面支持客户创新。

在技术规格方面，T2000 AiR2X支持高度弹性测试配置，可搭载多达12个量测模块，功能涵盖功能测试／扫描测试、高精密直流（DC）测试，以及最高可达320V的车用装置高压DC测试。该系统搭载独特的多站点（Multisite）控制器功能，可大幅缩短量产测试时间。

T2000 AiR2X系统内建爱德万T2000 RECT550效能板，灵活支持多种配置，并沿用T2000的程序开发环境，提供统一的支持架构及可扩充模块选项。此外，透过导入快速开发套件（Rapid Development Kit； RDK），预期将大幅降低程序开发与除错工作量，加快平台移转与导入速度。

目前T2000 AiR2X已展开初期装置评估，确认其广泛适用领域，包含工业级MCU、消费性ASIC、车用与移动设备电池IC以及电源类比应用。该系统预计于本月稍后正式上市供货，协助客户在快速演进的半导体市场中维持竞争优势。