爱德万测试推出MTe 统一且可扩充的功率半导体测试平台

全球领先的半导体测试设备供应商爱德万测试（Advantest Corporation）近日隆重推出MTe功率测试平台，以最先进的技术重新定义测试效率与可扩充性，以满足快速成长的功率半导体市场之测试需求。

随着汽车、工业、再生能源、电信及数据基础设施等应用领域的电动化需求持续上升，半导体制造商正致力于实现更高性能与更低的测试成本（CoT）。MTe平台透过模块化硬件架构、极致的系统可扩展性以及先进的数码控制，全面回应业界需求，重新定义功率半导体测试的效能与效率标准。

爱德万测试集团旗下CREA公司总经理Fabio Marino指出：「MTe的设计理念体现了我们的愿景—藉由具备可扩展性、弹性与永续性，让测试变得更简单。我们为客户提供一套统一的测试解决方案，这套方案可随生产需求而演进，协助客户从研发阶段到量产阶段无缝接轨，确保最高的效能与可靠性。」

MTe平台采用爱德万测试最先进技术打造，在不牺牲效能的前提下大幅缩小设备占地并最佳化资源分配，这也是吸引主要IDM与OSAT厂商导入的关键优势。MTe平台不仅能应对新兴宽能隙半导体（譬如SiC与GaN） 的测试挑战，更能实现数码IP核心于功率元件（譬如IPM与IPD）的整合，提供高带宽撷取、业界顶尖的闸极驱动器控制、高达10kA的动态（及短路）测试能力，以及灵活的高压数码功能。

秉持爱德万测试提供可扩充测试平台的传统，MTe采用分散式运算架构，可大幅提升多站点测试效率，实现高并行测试解决方案并优化整体产出率。MTe平台现已于全球上市，经汽车及工业功率应用领域客户初步评价，相较于传统测试设备，MTe在生产力与测试吞吐量方面皆有显着提升。