西门子推出Tessent IJTAG Pro 加速复杂的半导体设计与测试流程

西门子数码工业软件宣布推出Tessent IJTAG Pro，透过将原本串行运作转变为平行运作，进而彻底改变基于IEEE 1687的IJTAG输入／输出方式，同时提供自订硬件的读写存取功能。这款全新软件导入高带宽内部 JTAG（IJTAG）与通用数据串流功能，并运用西门子 Tessent 串流扫描网络（SSN）软件的宽汇流排提升数据传输速度，协助客户降低测试成本、缩短测试时间。

随着晶体管密度在多维度上持续扩展，半导体产业正经历前所未有的快速演进。当半导体设计从2D架构逐步发展至2.5D，乃至完整的3D IC架构时，设计测试面临的挑战也呈指数级增加。测试矢量数激增、矢量执行时间延长、ATE成本高涨，加上测试引脚的资源受限，种种因素意味着：若要在设计流程中维持竞争优势，优化现有基础架构以支持测试规模扩展，不仅至关重要，更已成为必要之举。

西门子数码工业软件数码设计创作平台资深副总裁暨总经理Ankur Gupta表示，在现今复杂的IC设计中，优化测试时间是一项重大挑战。Tessent IJTAG Pro运用西门子SSN架构，将传统串行IJTAG运作转换为高带宽平行处理流程，不仅能加速测试、降低测试相关成本，还能提供革新测试存取所需的弹性，以符合产业不断演变的需求。随着半导体设计从简单的2D架构逐步升级至完整的3D IC架构，无论是单一小芯片还是整个3D IC封装，都能透过这款软件节省测试成本。

Google资深工程经理Srinivas Vooka指出，高带宽IJTAG创新性地运用SSN汇流排架构，其测试矢量传输速度远超传统串行方式，大幅缩短测试套用时间，在内建自我测试（BIST）与混合信号IP测试方面效果尤为显着。

Tessent IJTAG Pro的各项功能搭配西门子的Tessent AnalogTest软件，代表西门子在半导体测试能力与带宽上的重大拓展。欲进一步了解西门子全新Tessent IJTAG Pro，欢迎至西门子官网查询。