陆得斯将于SEMICON展出晶圆缺陷检测机台
- 林仁钧／台北
-
美商陆得斯于2015 SEMICON TAIWAN展出(摊位号码：L400)。
美商陆得斯科技将于9月2日至4日参加2015 SEMICON TAIWAN，展出晶圆缺陷检测机台「NSX系列」，现场Live demo晶圆缺陷检测机台，并有专人现场解说。
另提供先进封装制程黄光曝光机(Lithography Stepper)、高性能晶圆膜厚量测机台(Metrology Tool)、探针检测设备(Probe Card Tester)及数据分析与制程控制软件的相关信息。
美商陆得斯科技(Rudolph Technologies, Inc)将于南港展览馆4楼(摊位号码：L400)，欢迎您莅临摊位。
议题精选－2015 SEMICON
- 大陆半导体砸重金拼购并 全球势力强势崛起
- MEMS应用潜力无限 车联网、智能物件全面启动
- Aerotech推出半导体制程最适系统PlanarHDX
- Entegris NMB过滤器降低晶圆污染率
- SEMICON 2015着眼高科技业建厂商机
- 奇裕于SEMICON展示完整解决方案
- 智能汽车创造车用半导体的新蓝海
- 台湾富创得先进制程高温烘烤设备
- 加速IoT产品设计 抢攻物联网商机
- Thunder高速大量大数据分析布局软件
- 3D/2.5D IC搭配先进封装提升芯片效能
- 新材料、进阶制程设备挑战10纳米趋势
- NTIO于Semicon Taiwan展示历来最大成果
- SEMICON Taiwan 2015 9/2盛大开展
- SEMICON 2015揭幕 晶圆代工、DRAM、设备产业聚焦先进制程
- 比利时微电子进军健康管理 投入无线脑波耳机研发
- 库力索法扩大APAMA先进封装产品线平台
- 工业局半导体设备SEMICON展现硬实力
- USHIO展出次时代封装制程曝光设备
- 扬发提供半导体制程自动化水洗设备
