专为高端28纳米设备及3D架构设计　惠瑞捷推出可扩充等级测试机V93000 Smart Scale

自动化测试设备商爱德万(Advantest)集团旗下子公司惠瑞捷(Verigy)发布半导体产业首见可扩充、具成本效益的测试机种V93000 Smart Scale，专为3D设备架构及28纳米设计的高端半导体量身打造。

台湾惠瑞捷总经理陈瑞铭表示，Smart Scale系列为创新智能测试机，采用per-pin架构设计，与惠瑞捷生产验证V93000平台完全兼容。智能测试主要特色为每个针脚皆可依其时脉域测试，透过确切比对该设备须测试的数据率要求达到全面的测试。其他功能包括供电调节、颤动注入及设定通讯；模拟系统压力测试(System-Like Stress Test)可达自动化测试设备等级，增进故障覆盖率。

惠瑞捷测试事业部副总 Hans-Juergen Wagner 表示，该公司以创新V93000 Smart Scale Generation测试系统与针脚量测模块展现引领智能测试方式科技领域的能力，提供客制化方案，降低客户的测试成本。

陈瑞铭指出，Smart Scale测试机等级分别为A、C、S与L等4种，各有不同尺寸的测试头，惠瑞捷以最具成本效益的方案供各用户具体运用满足不同的需求。因测试机等级彼此兼容，当IC生产数量因设备寿命有所调整，用户可简捷快速地自任一Smart Scale等级调整至另一等级；目前尚无其他自动测试设备厂商能够做到这点。

惠瑞捷的独特设计技术表现于并行测试与产业首见的全能晶圆测试方案：测试高端芯片内建系统单芯片(SOC)设备、系统级封装(SiP) 设备与晶圆级芯片封装(WLCSPs)的严格产能需求。