台北国际光电周重要研讨会即将在南港展馆登场 致茂电子订15日举办「先进LED测试技术应用研讨会」 智能应用 影音
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台北国际光电周重要研讨会即将在南港展馆登场 致茂电子订15日举办「先进LED测试技术应用研讨会」

  • 陈昌博

LED由于具备轻巧、环保、耐用、高亮度等多种优异的特性,成为节能趋势下,最佳新一代照明选择。而在持续扩大的市场需求下,致茂电子所生产的全系列LED测试解决方案不仅提供制造商精准的检测数据,也能有效降低制造成本、提高市场竞争力。

针对LED特性,致茂研发一系列LED测试应用的完整产品线,将在本届光电周展览中盛大展出。为让与会来宾对于致茂所提供的测试技术有更深入的了解,订6月15日下午1点在世贸南港展览馆举办「先进LED测试技术应用研讨会」,探讨LM79/80 LED 照明法规简介及相关测试技术、光学检测设备之发展与白光干涉技术之应用,以及全方位的LED电源测试解决方案。

会中将介绍IES LM-79国际固态照明(SSL)的标准量测方法以及LM-80 LED光源之光维持率的量测方法。而光学及色彩量测设备的发展必须能跟上显示技术及光源发展的脚步。色彩量测技术由滤镜式、分光式,发展到2D CCD式,CCD式就如同人的眼睛,故能由色彩量测的应用拓展到光学量测的应用,会中也将介绍2D CCD式的发展与应用。

有监于各式精密光机电元件与半导体制程,皆持续往微小化发展,产业界对于量产化之微纳米三维形貌量测设备,其需求也日渐殷切。本研讨会中,将对白光干涉仪于微纳米三维形貌量测之基本原理、核心技术及市场应用,做详细之介绍与说明,并针对致茂本次杰出光电奖得奖产品7503三维光学轮廓仪之核心技术特点与客制化应用特色,进行深入的探讨。

此外,省电的LED照明是当前火红的节能产品,但是LED驱动电源的使用寿命却是业界的共同困扰。致茂电子将以20多年电源测试的专业,帮助业界验证所设计的 LED 电源,确保所开发的LED电源产品可以应付市电变动的冲击,验证匹配性来正确点亮不同的 LED,提供完整的测试方案解决所遇到的难题。以上这些精采的内容都会在本次研讨会中与大家分享,活动采免费在线报名方式,座位有限,请尽早报名,报名官网:http://www.chroma.com.tw,或电洽致茂电子吴婉如小姐:03-3279999 转3109。


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议题精选-光电周2011