致茂推出全方位SoC/Analog测试系统

致茂电子推出全新产品Chroma 3680全方位／高精度／高效能SoC测试系统，拥有最高可达1Gbps的数据速率(data rate)、平行测试更多待测物的能力及符合数码及模拟IC的测试应用需求，提供最佳的测试系统给IC设计公司、整合元件制造公司IDM(Integrated Device Manufacturers)及半导体封装测试服务公司OSAT(Out-Sourced Assembly and Test)。

Chroma 3680全方位／高精度／高效能SoC测试系统，除了数码信号之外并提供了类比及混合信号的单板选项可供测试，例如：HDADDA2单板选项给数码类比转换DAC或类比数码转换ADC测试使用，HDVI单板选项供车用的高电压应用使用还有HDAVO单板选项结合了高取样率和高位元分辨率有400MSPS的任意波形产生器及250MSPS的数码信号量化器。应用范围包含微控制器(MCU)、数码音讯(Digital Audio)、数码电视(Digital TV；DTV)、机顶盒(Set-Top Box)、数码信号处理器(DSP)、网络处理器(Network Processor)、现场可程序逻辑门阵列(Field Programmable Gate Array；FPGA)及消费性电子IC应用市场等测试方案。除硬件测试，Chroma半导体测试解决方案亦提供丰富的软件套件以符合不同测试应用。

Chroma半导体测试设备可整合ADIVIC MP5800射频(RF)ATE测试专用机，涵盖6GHz测试范围，提供4/8RF Port及120MHz带宽。应用范围包含WiFi/BT/GPS…等IoT应用及RF元件测试(PA/LNA/Converter)，达到RF/Digital全方位ATE(CP/FT/SLT)测试解决方案。