Anritsu安立知与泛铨科技深化合作 共同推进矽光子检测方案
- 张姝宁／台北
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Anritsu安立知很荣幸宣布，半导体检测分析大厂—泛铨科技（MSSCORPS）采用Anritsu安立知领先市场的光电网络分析仪（Opto-electronicNetworkAnalyzer；ONA）VectorStar ME7848A系统，藉由导入该系统的高精度量测能力，泛铨科技成功为其自主研发的MSSHG检测设备提供光电量测的选配服务及功能，以确保其矽光子（SiliconPhotonics）测试技术的精准度与稳定性，进一步拓展于矽光子领域的商务布局。
Anritsu安立知的VectorStar ME7848A系统采用创新的模块化方法，可在波长为850nm、1310nm和1550nm的矽光子元件上实现经济高效的O/E、E/O和O/O测量。该系统具有快速切换测量模式的能力，其测量结果由MN4765B O/E校正模块建立并具备NIST可追溯性。
凭藉其强大的全面测量能力，包含响应度参数（频率响应、转换效率等）、递移函数、群延迟测量、光损耗以及平衡测量和E/E测量等，能完美应对70GHz、110GHz、145GHz甚至高达170GHz高频系统的严苛测试挑战。
泛铨科技透过导入Anritsu安立知的光电量测技术为其高效能设备进行技术验证，确保其量产设备符合最高规格的品质标准，全面因应高频系统的严苛测试挑战。未来，泛铨MSSHG设备除了标准配置外，更将透过高度弹性的架构进一步整合包含ONA、眼图（EyeDiagram）及BERT（误码分析仪）等高端选配功能，打造全方位的矽光子高值化测试平台，为半导体晶圆制造、IC设计与CPO封装业者提供更实时可靠的解决方案。
「泛铨科技的目标是为半导体产业提供最精准、高效率的材料分析与故障分析技术」泛铨科技董事长柳纪纶表示:「选用Anritsu安立知的技术与平台，正是基于其在光电与高频测试领域的领导地位。结合Anritsu安立知高稳定度且具高扩充性的测试方案（如ONA、BERT等），使我们能确保MSSHG设备的光损定位精确性与通用性，进一步巩固泛铨科技作为全球半导体分析品牌领导者的地位。」
Anritsu安立知美国区总裁暨M3US事业部总经理PetePragastis表示：「泛铨科技在半导体与矽光子检测领域展现了卓越的技术创新实力，结合Anritsu安立知先进的ONA测试解决方案，双方携手为矽光子检测设备定义了全新标准，并为高速光通讯与CPO封装技术的未来开拓了更多可能性。Anritsu安立知期望持续深化与泛铨科技的合作，共同推动先进光电技术在半导体产业的创新应用，引领产业发展并为全球客户创造更高价值。」
