尺寸量测趋势 由多点转为2D

KEYENCE首创在线投影量测系统TM。

过去尺寸量测多进行以「点」为基准的量测，例如使用单轴雷射测微计，但随着产品精度提高以及检测标准日趋严格且多变，传统的量测方法在处理检测时已越来越显得力不从心。目前的趋势是采用2D量测来取代传统的点式量测，可有效解决因工件位置或治具因素而导致的量测误差，或需分成多次才能完成量测的问题。

例如，量测仪器领导厂商KEYENCE所推出、世界首创的2D高速测微计TM系列，运用2D投影，无需移动工件便可同时量测最大外径和角度，最多可一次量测16处，大幅缩短量测时间。TM系列可识别工件位置进行自动补正，并以区域平均减少因表面粗糙而产生的差异，提升量测精度，重复精度达±0.15μm。因此过去因形状过于复杂而无法进行在线量测的工件，透过TM系列，现在也可在线进行外径、段差、焦点距离、位置、座标、间距等各种尺寸量测。

除了在线量测，2D尺寸量测也被大幅应用在离线尺寸量测中，例如常见的以工业用投影机来进行零件的尺寸量测。但使用投影机量测每个工件时都须重新定位，且每量测一处便得移动座标台后重新对焦设定，使得量测工作既耗时又费力。

对于离线尺寸量测，KEYENCE也提出了有效的改善方案。KEYENCE的影像尺寸测量仪IM系列为半自动，只需将工件放在座标台上，按下单键便可在2秒内量测99处。放置工件后不须定位或调焦，即使改变放置角度也不影响量测结果，任何人都可轻易操作，且无人为误差，量测精度高达±5μm。原本需10分钟的量测，使用IM可在1分钟内完成，节省了90%的量测工时，让全检成为可能。

因2D量测具有可同时量测多点、量测结果不受工件位置或倾斜影响等优点，加上现有的CMOS与远心光学镜头技术已可实现高精度、无误差的投影，使得量测精度随之提高，让2D量测不论是在在线或是离线，皆已成为尺寸量测的最新趋势。

如欲进一步了解其他2D尺寸量测解决方案，欢迎谘询：0800-010-898；或参考以下网站：http://www.keyence.com.tw/digiTM。