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车用电子应用功率测试挑战与解决方案

图1:车用电子元件测试挑战一览表。
图1:车用电子元件测试挑战一览表。

全球化趋势让汽车和汽车零件产业竞争压力加剧,在不牺牲节能效率、安全性和可靠性的前提下,必须以更低的成本开发更多元的汽车功能。以下将描述必要的元件级测试的关键因素,并说明是德科技最新解决方案以协助业者克服这些挑战。

车用电子元件测试挑战

图2:是德科技车用电子元件测试解决方案。

图2:是德科技车用电子元件测试解决方案。

图1总结针对汽车应用执行元件级测试时的主要考量因素,为了达成这些目标,汽车电气工程师必须测试各种元件参数,例如导通电阻(RON)、饱和电压(VSAT)、崩溃(BVDSS),以及输入?输出电容(Ciss、Coss)。此外,这些测试需在实际操作条件下(例如400 A或1,200 V)以及宽广的温度范围内进行。如欲极致降低功率损耗,必须透彻了解各项参数,例如Crss、闸极电荷(Qg)和闸极电阻(RG)。

验证汽车感应器(特别是电容MEMS感应器)的效能也极为重要,而直流测试(IV和CV)是执行此流程的第一步。除了技术考量之外,汽车工程师也必须采用新技术(例如SiC和GaN)以便降低成本。另一方面,为避免数据不实或不合格之功率元件以确保高品质,汽车厂亦有必要先执行严格的筛选。

是德科技各式元件测试解决方案

图2为是德科技所提供的元件级测试解决方案。B1506A功率元件分析仪是完整的电路设计解决方案,可协助汽车电子电路设计工程师全面增进车用电子系统的效率、安全性和可靠性。它可在各种不同的操作条件下评估所有相关装置和元件的参数,包括IV参数,例如崩溃电压和导通电阻,以及三端FET电容、闸极 电阻、闸极电荷和功率损耗。

B1506A功率元件分析仪  适用于电路设计

B1506A支持宽广的电流和电压范围,从sub-nA至1500 A,以及从微伏至3 kV,以便评估汽车电子电路中使用的绝大多数装置和元件。它可提供易于使用和精确的自动化温度相依量测功能,于-50°C至+250°C的宽广温度范围内进行量测。目前有两种解决方案可供选择,其一为支持产业标准的inTEST Thermostream温度系统,而另一种则是B1506A测试夹具内的热敏板(同样是inTEST所提供),利用这些解决方案,过去要花一整天才能完成的热温测试,现在不到一小时就完成了。

提升电路效能和效率一直是个重要课题,特别是当切换频率导致切换损耗增加,而开始左右元件的功率损耗时,您必须全面地评估元件电容、闸极电阻和闸极电荷的特性。然而,由于这些参数非常难以量测,很多汽车工程师完全不想尝试。B1506A不仅可自动量测所有这些参数,同时还可使用所撷取的参数来进行功率损耗的计算,让这个棘手的问题迎刃而解。

B1507A功率元件电容分析仪

如果您的旧型曲线追踪或功率元件测试仪具有直流特性分析功能,但欠缺电容量测功能,Keysight B1507A可补充缺少的这项测试资源。它可在高达3 kV的高电压偏压下,提供自动晶体管输入、输出和反向传输电容量测能力,并且具备闸极电阻量测能力。

B1505A功率元件分析仪?曲线追踪仪

Keysight B1505A可取代B1506A,具有更灵活的特性、更宽的电流与电压范围、更出色的低电流量测准确度、高电压与中电流(如500 mA、1.2 kV)量测功能、GaN电流崩塌测试选项,并且可以同时对3个以上的针脚进行量测。此外,B1505A可量测晶圆上和封装元件。

除了广为功率元件制造商所采用外,B1505A是使用GaN功率元件的车用电子工程师之得力助手,可协助他们量测4端IGBT的感应发射极电流,并评估HVIC闸极驱动电路。

Keysight示波器与脉冲产生器

切换特性是元件级测试的重要环节,Keysight InfiniiVision 4000 X系列示波器以合理的成本提供充足的带宽和分辨率,如有需要可搭配使用电流探棒。而81110A脉冲产生器还提供快速且充足的电压脉冲,以便分析汽车元件的特性。

感应器量测解决方案

使用Keysight B1500A和B2900A SMU轻松量测DC MEMS效能SMU可同时供应电源并量测电流和电压,是量测汽车感应器之IV效能的便利工具。例如无论是B1500A和B2900A系列都配备SMU,可对MEMS元件(例如加速计)进行直流电流与电压特性分析。手动将MEMS元件旋转360度后,SMU可量测输出电压。

使用E4980A LCR表评估MEMS元件

MEMS电容感应器(例如压力感应器或加速计)可侦测电容值以便检查是否有出现机械位移。测试这些元件的功能性时,经常使用静电力(而非实际的激发)来提升测试效率。然而由于致动器的电容变化非常小,工程师必须使用具有毫微微法拉(sub-femto farad)分辨率的测试设备来量测电容。Keysight E4980A具有attofarad重复性(σ<1 FF),是量测电容的理想工具。 (本文由是德科技提供,李佳玲整理)