致茂电子参与台北国际电子产业科技展 展出最新测试解决方案

TAITRONICS 2023 台北国际电子产业科技展(10月25至27日)，致茂电子将于南港展览馆一馆1F(摊位号: J1127)，展出多元的测试解决方案。

Chroma 11090-030 射频LCR 表为一提供贴片电感及射频滤波器等被动元件高频量测评估解决方案。其高达300MHz的测试频率，对于POL或一 般小型DC-DC Converter之电感元件，不仅满足日益增高的标称频率测试外，更可满足需要于超高频检测才能测出之品质异常。此外，同样能满足如EMI-Filter、Ferrite Bead等惯用的100MHz 阻抗测试需求，为市场上少数既有解决方案之外的全新选择。

锂电池产品的起火事故大部分发生在充电时，主因为大部分锂离子电池所使用的负极材料，在经过反覆充放电的周期会持续膨胀造成正负极之间极距缩短，导致原本电极间因电极毛边或金属异物混入而使有效绝缘距离短于应有设计而容易演变为内部短路。一般常见于电池芯生产检验问题多为过低的乾电芯绝缘检测电压(<350V)，以及绝缘测试过程中未检测因电极毛边或金属异物混入所造成的电气闪络(Flashover)。Chroma 11210 电池芯绝缘测试器以独特的电气闪络检出技术以及电压冲击测试(+Flash Test)可检出锂离子电池(乾电芯)在电解液填充前的有效绝缘距离是否足够以及是否有异常电子漏电，提供电池芯完整的品质测试。不仅能避免潜在绝缘不良品流入终端市场，更成为电池防火安全改善的一大利器 ，进而降低锂电池产品的起火风险。

功率元件(IGBT & SiC-MOSFET)被应用于各种领域且经常被使用于高功率/大电流的电源转换/控制线路、隔离元件(光耦合器&数码隔离器)被应用于各种需要隔离电压的环境，这些元件上会出现较高的跨压或压差，因此确保元件在正常的工作条件下维持良好的耐压绝缘及无连续性局部放电导致绝缘劣化至关重要。Chroma 19501系列局部放电测试器符合法规IEC 60270-1对局部放电(Partial Discharge, PD)量测的要求，并将法规之测试方法设计于仪器内，可提供AC耐压测试(Max. 10kVac)及局部放电量测(Max. 6,000pC)，能有效地为功率元件及隔离元件等长期工作的品质与可靠性做把关。

我们诚挚的邀请您一同体验量测新趋势，期待在此年度盛会中与您见面。