OpenLight 发布首款制程设计套件采样器,用以加快元件测试 智能应用 影音

OpenLight 发布首款制程设计套件采样器,用以加快元件测试

  • 美通社

新产品让实验室测试具有灵活度,并加强 PIC 设计准确度,进而加快上市速度

为了增强对制程技术的熟悉程度以及光子整合电路(PIC)的普及, OpenLight 今日宣布其制程设计套件(PDK)采样器已全面上市。PDK 采样器是一款独特的芯片级 PIC,包含 OpenLight 的标准 PDK 元件,让客户能够在自己的实验室中对 PDK 组成部分进行全面测试并验证模型,进而可以通过第一轮测试以交付 PH18DA 平台制造。其中的组件包括 OpenLight 的异构激光、光放大器、100G PAM4 电吸收调制器(EAM)模块,以及其它基于 Tower 的 PH18DA 制程的主动或被动型元件。

OpenLight_PDK_Sampler
OpenLight_PDK_Sampler

采用新制程技术通常具有陡峭的学习曲线,并且对于客户来说往往是一个挑战,尤其是在近年来日新月异的矽光子领域。这一全新的工业成果,为客户提供了一条捷径,可在一项 PIC 定制设计出炉之前,透过直接获取实验室数据对 PDK 组成部分进行单独实时测试。由于客户能够在自己的实验室测试 PDK 组件,他们在 Tower PH18DA 制程方面的信心会持续增强,并能够透过光学和电学的方式探索 PIC。

「这款透过 Tower Semiconductor 实现的『万能』PIC ,让客户可以更好地透过我们的开放平台,对各种可用的 PDK 元件进行采样,」OpenLight 行政总裁 Adam Carter 博士说:「OpenLight 的使命,就是率先为业界提供适用的设计工具并推动 PIC 在各种市场和应用中大规模使用。我们期待利用我们强大的 PDK 采样器,为下一代设计铺好前路。」

「OpenLight 持续为 Tower 现有的开放代工平台产品提供补充,」Tower Semiconductor 模拟业务部高级副总裁兼总经理 Marco Racanelli 博士说道:「作为 OpenLight 的合作夥伴,这一举动将令我们共同的客户们更容易使用 Tower 的 PH18DA 制程工艺,并帮助他们充分利用我们的技术。」

OpenLight 于 2022 年 6 月作为一间独立的公司成立,提供全球首个开发型异构整合 III-V 元件的矽光子平台。公司于旧年 11 月全面推出 PDK。  

这款 OpenLight PDK 采样器包含两组 PIC。如欲随时获取 OpenLight 产品上市及价格信息,请传送电子邮件至 info@openlightphotonics.com。 如欲了解更多信息,请浏览 https://openlightphotonics.com/。

关于 OpenLight
OpenLight 在光子设计方面拥有数十年的经验。我们的行政和工程团队向业界提供世界第一个整合激光器的开放式矽光子平台,以提高电讯、数据通讯、激光雷达、医疗、高效能运算、人工智能和光学运算应用设计的性能、电源效率的性能。凭藉 200 多项专利,OpenLight 将光学解决方案带到前所未有的领域,并实现从来不可能实现的技术和创新。公司总部位于加州圣塔芭芭拉,在硅谷设有办事处。如欲阅读更多内容,请浏览  www.openlightphotonics.com 

 

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