爱德万测试推出Pin Scale 5000B 强化V93000 EXA Scale测试能力

爱德万测试推出Pin Scale 5000B数码测试解决方案，强化V93000 EXA Scale平台效能，支持次时代HPC与AI元件测试需求。爱德万测试

全球领先的半导体测试解决方案供应商爱德万测试今日隆重推出针对V93000 EXA Scale平台设计之升级版数码测试解决方案Pin Scale 5000B，新方案专为因应先进人工智能（AI）与高效能运算（HPC）元件日益增加的测试需求而打造。

随着先进制程节点、异质整合与小芯片（chiplet）架构持续发展，AI及HPC半导体功能与复杂度亦快速成长。这类元件对结构性与功能性测试覆盖率的要求大大提高，同时也需处理急遽增加的测试数据量。

Pin Scale 5000B测试卡大幅扩充所搭载的矢量存储器，提供具备深度且可扩充的存储能力，符合产业需求。其软硬件设计促进小芯片架构有效运用存储器，有助客户降低整体系统资源消耗与相关成本，同时满足未来日益成长的存储器需求。此外，最新Pin Scale 5000B亦能帮助客户高效拓展现有之测试程序与硬件配置，以因应不断变化的元件需求。

这套解决方案可支持现代扫描架构（scan fabric architectures），透过串流方式同时测试多个IP核心。其最新硬件功能可在单一测试矢量（test pattern）执行期间，同时观察跨核心的测试结果，实时掌握各核心间的错误分布。这些功能有助提升结构覆盖率与核心层级可视性，大幅缩短测试时间、降低测试成本（CoT）。

Pin Scale 5000B支持高带宽测试，透过成熟的Pin Scale 5000脚位信号架构，提供高达5 Gbps的数据传输率。Pin Scale 5000B是与现有Pin Scale 5000完全兼容的超集合（superset），进一步丰富V93000产品组合。

爱德万测试V93000产品事业部执行董事暨部门经理Ralf Stoffels指出：「随着AI与HPC元件在规模与整合方面持续突破极限，半导体测试解决方案势必得跟着快速提升。Pin Scale 5000B在既有成熟的Pin Scale 5000测试卡基础之上补完、进化，进一步增V93000 EXA Scale平台功能，提供客户所需的效能与可扩充性，以因应日益复杂的元件测试需求。」

Pin Scale 5000B数码测试仪器已获主要客户青睐导入量产。