爱德万测试发表次时代M5241存储器分类机 支持高效AI记忆元件

新平台具备高精准温控、最大化稼动率并强化维护性，满足先进存储器测试需求。爱德万测试

半导体测试设备领导供应商爱德万测试（Advantest Corporation）于日前隆重宣布推出M5241存储器分类机（Memory Handler），这款次时代分类机专为新兴高效能存储器元件设计，特别是用于人工智能（AI）应用的产品，满足其在效能、自动化与成本效率上的需求。新产品预计于2026年第2季开始出货。

作为爱德万测试存储器测试机台策略的下一代产品，M5241采用垂直对接设计，可无缝整合至该公司最新的T5801超高速DRAM测试机，同时也兼容于现有之T5833、T5503HS2及T5835测试机，使客户能充分发挥既有设备的价值。M5241采用全新温度控制架构，搭配可选配的主动式热控技术，为先进存储器IC（包含具高自发热特性者）提供精准稳定的测试环境，直接提升客户装置的良率与可靠性。

爱德万测试执行董事山下和之指出：「随着存储器架构日益复杂且功率密度不断提升，稳定的温度管理与高运作时间已成为量产测试的关键要素。M5241从零开始设计，旨在支持AI时代的存储器元件，同时实现自动化、预测性维护及营运效率提升，以契合客户打造智能工厂的目标。」

M5241的开发是为因应AI与数据中心应用中，对高带宽和大容量存储器急速成长的需求。这款新型分类机不仅强化了爱德万测试在市场上的领导地位，同时满足客户对更高吞吐量、更低成本及更佳营运透明度的期待。

这款新型分类机已于爱德万测试内部使用实际存储器 IC与T5801测试机通过评估，并于量产条件下完成验证，目前已获多家主流存储器制造商青睐，着手规划采用中。

主要特色与优势

M5241分类机支持DDR5、次时代DRAM、NAND、AI存储器及其他高密度存储器。其具备高达512个平行测试站点，每小时最高吞吐量达46,000单位，并可适应标准温度范围-40°C至+125°C，或扩展温度范围-55°C至+150°C。此款新型分类机关键优势包含1. 高精准温度控制：新型微型腔室搭配可选配的主动式热控系统，即使在高自发热负载下仍能维持元件温度稳定，实现精准测试条件并提升良率。

2. 透过卡料减少（jam-reduction）技术实现领先业界的高稼动率（uptime）：结合自动回复功能与专利的装置错位检测技术，显着提升生产线的整体设备效率。3. 提升维护性并降低持有成本：自动原点查找功能及免螺丝一键更换套件特色大幅精简维护作业，与先前工作流程相较仅需四分之一时间，从而减少停机与营运成本。4. 符合现代化晶圆厂的自动化需求：兼容于标准厂内天车与机器人系统，并可选配HM360软件，支持进阶自动化、视觉化数据及预测性维护。

更多关于M5241分类机及爱德万测试全产品线信息，欢迎于2025年12月17至19日亲临东京国际展示场（Tokyo Big Sight）SEMICON Japan展会爱德万测试E4346摊位。