爱德万LCD驱动IC测试系统T6373 大幅增加产出 提升成本效益最佳测试解决方案

爱德万LCD驱动IC测试系统T6373。

ATE领导厂商爱德万测试(Advantest)针对LCD驱动IC的测试，于2001年推出T6371测试系统，2004年推出T6372，深受业界好评，至今已累积逾500台销售实绩。2008年，爱德万测试进一步推出更具生产成本效益的LCD驱动IC测试系统T6373，更是获得市场热烈回响。

爱德万测试表示，在LCD面板出货朝向大尺寸化、高分辨率化的趋势之下，有助于提升驱动IC用量；然而面板厂为了进一步缩减成本，亦朝向驱动IC多通道化发展，使得IC用量减少。因此在成本效益考量之下，高性能LCD驱动IC测试机台就更具关键性。爱德万的T6373的测试速度从250Mbps至2.5Gbps，可同时测试更多颗IC，搭配M7521A Handler，可使良率提升、缩短上下料时间，增加产出，提供LCD驱动IC最佳测试解决方案。

T6373有多达512 channels的高速I/O数码信号，和3,072 channels的LCD pin测试资源，提供同测功能可一次多达32个devices，使产能增加两倍。T6373所有I/O channels可达875mbps的测试速度，另外，新增的HSIF高速 I/O channels更可达到2.5Gbps的高速数码测试能力，可提供mini-LVDS、PPmL、Aipi和mipi(Mobile Industry Processor Interface)等高速传输标准的测试，使所有的LCD驱动IC的功能测试，都可以在同一台测试机上完成。

T6373的每一个 LCD channel，都有一个高精确度的量测装置，其精确度比旧型机台增加了1.5倍。它为范围广泛的驱动IC产品，从大规模生产的产品，如消费性电子产品8-bit(512灰阶)和10-bit(1024灰阶)驱动IC，到12-bit(4,096灰阶)驱动IC提供了低成本、高精准度的测试。

此外，Probe Card及测试程序与上一代的T6372/L共享。由于T6373是以T6372/L测试机所延伸的新技术，更加满足开发及量产成本效益考量。它不仅保留原有软件环境和共享性，还完全与T6300平台兼容，使客户能够使用其现有的软件环境在T6373上开发新产品；或者使用T6372现有的测试程序及Probe Card，在T6373上制造量产。