惠瑞捷V6000 WS存储器测试系统新增SmartRA冗余分析功能

半导体测试厂商惠瑞捷(Verigy)日前宣布为旗下V6000 WS测试系统新增存储器冗余分析功能SmartRA(Scalable Memory Redundancy Technology)。SmartRA是一套可扩充、具备高度弹性及成本效益的解决方案，能帮助制造商解决DRAM冗余分析中，日渐成长的失败存储空间与效能需求。SmartRA于2009年7月14至16日的SEMICON WEST展览中展出。

惠瑞捷于2008年11月推出的V6000 WS系统，是业界第一套可同时应用于快闪存储器与DRAM的晶圆测试系统，不仅具备可扩充性，更能满足大量测试需求。随着SmartRA的推出，V6000 WS使用者将可轻松地透过冗余分析功能提升产出量及良率。

随着DRAM密度日渐成长，晶圆测试也面临更高的挑战，需要更强的并行测试能力，测试频率和元件冗余电路的复杂程度也逐渐提升。这也为冗余分析带来了前所未有的大量数据。因此，在撷取失败数据并有效完成冗余分析的过程中，加强存储空间和效能的需求因应而生。

为满足业界的众多需求，惠瑞捷开发了SmartRA，藉由此解决方案具备的高效能刀锋服务器，企业可依据本身需求提高冗余分析的处理效能，无须扩充测试机台容量。另外，SmartRA采用开放性软件架构，客户可选择采用惠瑞捷提供的演算法或另外自行开发，可缩短上市时程并降低测试成本。

惠瑞捷存储器测试解决方案事业部副总裁Gayn Erickson表示，不同于其他可执行冗余分析的测试系统，新增了SmartRA技术的V6000系统无须另外添购替代硬件，即能维持产出量与良率。SmartRA的独特架构与领先业界的产出能力，能让DRAM制造商以最低成本持续扩充升级，达到足够效能以实现最佳良率。

SmartRA可解决复杂冗余分析处理所带来的挑战，包括暴露冗余分析时间导致的产出量下降，或是冗余分析逾时造成的良率损失。新增了SmartRA的V6000测试系统隐藏冗余分析时间，即使改变测试需求、切换测试模式也不会造成中断，进而达到提升产出量与良率的效能。