致茂电子于SEMICON展TAIWAN-TAP Pavilion专区发表业界首创PXI半导体测试模块新技术 智能应用 影音
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致茂电子于SEMICON展TAIWAN-TAP Pavilion专区发表业界首创PXI半导体测试模块新技术

  • 陈昌博台北

PXI系统是为一个开放性的工业平台,目前PXI的系统已广泛且成功地应用于汽车测试、半导体测试、功能性测试、航空设备测试以及军事的应用之上。相较于现有的半导体测试业界的测试设备,PXI测试系统具备高效能与低成本优势,成为量测仪器产业新星。身为专业量测仪器厂商也同时为PXI联盟执行成员(Executive Member)的致茂电子在对于PXI的推广更是不遗余力,在结合强大的技术资源,提供业界首创的PXI半导体测试模块。

从产品的发展应用趋势及客户群来看,致茂电子产品经理纪瑞峻表示,目前致茂已成功研发出PXI平台的半导体逻辑信号测试模块,使用PXI界面的标准机箱,提供100MHz可程序数码信号测试模块(Model 36010),该模块由一支持众多循序控制指令的测试矢量控制卡以及逻辑脚位信号卡(Logic Pin Electronics Card)所组成,用以发出待测品所需的电性信号,并接受待测品因此信号后所回应的电性信号而作出产品电性测试结果的判断。每一逻辑脚位信号卡有8个I/O通道,且采用Per-pin架构设计,每一I/O通道均配备有32M的测试矢量存储器(Vector Memory)、32组的时序设定、32组的波型(Waveform)设定以及参数量测所需的PMU功能。另外,该模块也具备扩充功能,每一张测试矢量控制卡最多可支持8张逻辑脚位信号卡,以提供最多64个I/O通道,并可同时测试8个DUT。在功能与效能的表现上,与现有大型的IC测试机台相当,能提供快速且准确的测试,而其价格却是只要传统设备1/3左右的价格。

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