爱德万测试T5851测试机台荣获「最佳参展项目奖」

半导体测试领导厂商爱德万测试T5851测试机台，于8月9日至11日举行的加州圣克拉拉第11届年度快闪存储器高峰会(Flash Memory Summit；FMS)，勇夺快闪存储器与固态储存产业最高荣誉的「最佳参展项目奖」(Best of Show Award)。

爱德万测试T5851系统在快闪存储器高峰会「最创新快闪存储器技术」(Most Innovative Flash Memory Technology)评监类别深获肯定，为半导体测试带来革命性的突破，有助业者藉由快闪存储器测试，进一步提升电子产品的效能、可用度、耐用度甚至能源效率。

T5851系统提供单一多协定工具，针对高效能通用快闪储存(UFS)装置与PCIe BGA固态硬盘(Solid-State Drive；SSD)做测试，大幅降低客户的资本投资与部署风险。此外，T5851采用 Tester-per-DUT架构与专利硬件加速器，成就业界最短的测试时间，进而减少测试成本。

T5851专为NAND装置的大量测试、可靠性测试与品质测试而设计，且系统具弹性，若搭配自动元件分类机如爱德万测试M6242系统，则最高可平行测试768个装置。

爱德万测试执行董事山田弘益表示：「爱德万测试为非挥发性存储器市场带来的创新突破，对于低功率的移动应用至为关键，而我们的努力能受到业界肯定肯定，敝公司深感荣幸。T5851系统在设计上瞄准了这类装置在系统级测试上的需求，同时又能兼顾市场对于可靠性、成本控制和大量生产的期待。」

快闪存储器高峰会大奖计划主席Jay Kramer表示：「新兴消费性电子产品采用快闪储存技术已成趋势，市场快速拓展，而业界能否提供可扩张的快闪存储器测试平台将成为一大挑战。我们很荣幸地将『最佳参展项目技术创新奖』(Best of Show Technology Innovation Award)颁发给爱德万测试T5851系统，该系统适用于广泛的测试方案环境，无论是生产模型还是工程模型皆可应用；而其多元性也获得肯定，举凡智能手机、平板电脑、超轻薄可携式笔记本电脑的存储器IC皆可测试。」

快闪存储器高峰会简介

由Conference ConCepts承办的快闪存储器高峰会，汇聚了非挥发性存储器与SSD价值百亿的市场背后，最主流的应用、最关键的技术以及最重要的领导厂商。企业储存应用以及智能手机、平板电脑、移动与嵌入式系统采用快闪存储器的需求愈来愈高，快闪存储器高峰会是目前业界规模最大的世界级盛会，提供业者窥见趋势、了解创新技术以及接触意见领袖的最佳平台。