思达科技再推出应用在WAT测试的3D/2.5D MEMS探针卡系列产品

思达科技推出新款MEMS微悬臂式探针卡。思达科技

半导体测试探针卡领导供应商 – 思达科技，宣布推出应用在WAT（晶圆验收）测试的新款3D/2.5D MEMS微悬臂式探针卡系列产品。处女座Virgo-Prima系列呈现探针卡应用、制造，以及量测的融合能力。透过优化的设计和结构，MEMS探针卡系列提供产业界客户，最佳的晶圆级参数和可靠度测试界面解决方案。

为满足高效能运算（HPC）和高容量数据分析不断成长的需求，探针卡制造商持续专注在先进探针的研发，而MEMS探针技术已被视为关键的竞争因素。在推出3D/2.5D MEMS微悬臂式WAT探针卡之后，思达在MEMS探针卡的设计上，呈现更多的创新，以符合电性量测的测试需求，并达到更高的生产良率。

思达处女座Virgo-Prima系列MEMS探针卡，支持从室温到150℃宽温度范围的量测，应用涵盖产业的测试要求，如HCI、NBTI、TDDB、EM，和RF射频信号完整性等。除了支持Keysight 4070/4080系列参数测试仪外，思达也推出了应用在产业界大多数特性验证测试仪器，如Keysight MPPT、P9002A等的WAT MEMS探针卡。这款探针卡系列产品，具备可更换的测试头，可对应于不同的PCB设计，减少对准时间且维持测试仪的可利用性。

思达科技CEO暨技术长刘俊良博士表示：「随着更多元的产业应用和混合式元件变得普遍，对半导体制造商来说，WAT测试是日益重要的程序。探针卡作为测试界面，不仅是高单价的消耗品，也必须确保分析结果是可信赖的。思达处女座Virgo MEMS探针卡系列产品，是专为市场趋势而设计，是制造商未来的开发上，最佳的探测解决方案。」