旺矽科技推出全新 250 GHz 宽频探针解决方案，稳固高频测试领域领导地位

整合 TITAN™ 探针技术与晶圆级量测专业，开创新时代半导体与次太赫兹应用精准测试新纪元

全球先进半导体测试解决方案领导厂商旺矽科技股份有限公司（MPI Corporation，以下简称「旺矽科技」）正式发表支持是德科技（Keysight Technologies，以下简称「是德科技」）全新 NA5305A/7A PNA-X 扩频模块的整合式 250 GHz 宽频测试解决方案。此方案结合旺矽深厚的次太赫兹探测技术与晶圆级量测实力，搭配 TITAN™ 射频探针与旺矽探针台平台，提供业界领先的高达 250 GHz 宽频 S 参数量测能力。

此最新里程碑凝聚旺矽科技于高频测量领域的深厚技术经验，包括早期突破 200 GHz 宽频探针测量极限的解决方案。此成果同时也彰显与是德科技的深化合作，透过结合业界领先的测试仪器与旺矽先进的晶圆级测试方案，满足持续成长的次太赫兹测试需求。

旺矽科技先进半导体测试事业部总经理Stojan Kanev表示：「旺矽是首家实现高达250 GHz实时单次扫描校准及支持单端／差分晶圆级测量的企业。此成就建立于我们在200 GHz以上宽频晶圆量测领域经多年验证的解决方案及优异实绩。全新250 GHz解决方案结合TITAN™探针技术与系统整合专长，能提供稳定可重复之测量结果、清晰的探针尖可视性，以及确保设置安全且简便的保护机制设计，协助工程师节省时间、保护系统并达成最佳效能。」

专为次太赫兹精度打造 
此 250 GHz 解决方案包含旺矽科技TITAN™单端式T250MAK 与差分式 T250MSK 探针，采用全新 0.5 毫米宽频同轴连接器，分别针对宽频元件量测与高速差分测试而设计。探针具备以下特点：

• 在全频段范围内实现超低插入损耗与优异回波损耗
• 独特的针尖可视设计与卓越机械稳定性，确保精准对位、接触可靠与数据一致
• 伸缩式针尖保护设计，确保操作安全
• 提供单端（GSG）与差分（GSGSG）配置，针对不同元件需求最佳化

TITAN™ T250系列探针可与旺矽科技全系列探针台平台完美整合，支持温控晶圆级量测，最大限度减少人工操作，确保系统的最佳重复性。

是德科技观点 
是德科技产品经理 David Tanaka 表示：「旺矽科技在高频晶圆探针技术的持续创新，对于扩展我们宽频矢量网络分析仪平台的量测能力具有关键作用。他们的 TITAN™ 探针提供了实现我们 250 GHz 解决方案所需的精度、重复性与系统级整合能力。这次合作将有助于我们因应日益增长的次太赫兹先进测试需求。」

满足半导体创新者不断演进的技术需求

随着人工智能、5G/6G 及高速光通讯技术推动半导体性能迈向新高，测试与量测工具必须同步演进。旺矽科技 250 GHz 宽频测试系统因应此需求，提供：

• 支持最高达 250 GHz 之全校准单扫描宽频 S 参数测量
• 支持调制宽频及非线性量测能力
• 可与主流测试仪器无缝整合，打造完整量测链

旺矽科技最新解决方案已部署于多家重要客户与合作夥伴的评估环境，并于台湾及美国设有展示系统。该解决方案预计将于 2025 年在荷兰乌特勒支举办的欧洲微波周(EuMW）首次公开亮相并进行现场演示。

关于旺矽科技股份有限公司

旺矽科技成立于 1995 年，总部位于台湾新竹，是全球领先的先进元件与晶圆级量测半导体测试解决方案供应商。公司旗下先进半导体测试（AST）事业部专注于射频/毫米波探针测试、高功率元件量测、矽光子（SiPh）技术，以及晶圆级可靠性测试。凭藉 TITAN™ 射频探针系列、WaferWallet® 自动化系统与 TS/IFE 探针台平台系列等创新产品，旺矽科技提供高精度、高可靠与高效能的半导体测试解决方案。

欲了解更多信息，请造访：www.mpi.com.tw/