半导体测试规格提升 台系探针卡蓄势待发
- 康琼之／综合报导
随着电子产品走向轻薄短小、节能省电、高速运算等特性，使得测试的复杂度提高，测试时间愈长，测试板增加亦带动单价提升。产业面而言，5G、AIoT、HPC、自驾车等各式应用发酵，对于半导体测试规格要求提高，进而带动探针卡需求成长。探针卡...
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