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第四代半导体:氧化镓

氧化镓的能隙达到了4.9 eV,这对于电源功率转换上是一大优势。(示意图)法新社

最近氧化镓半导体被讨论的热度是非常高,还有人称之为第四代半导体,有别于第一代的矽(Si),第二代的砷化镓(GaAs)及磷化铟(InP),第三代的碳化矽(SiC)及氮化镓 (GaN),究其因除了本身具有宽能隙 (wide bandgap)的特性外,另外很重要的一点就是,氧化镓半导体在技术上,可以使用传统单晶成长的方式,制作出直径6英寸的晶柱(ingot),这是在第三代半导体中所无法实现的,这对于未来不论就成本以及元件特性,都有着莫大的助益。

我个人并不十分认同用第几代来区分半导体,因为这有取代的意义,而很明显的,这里没有谁可以取代谁的空间,矽仍是最重要的半导体,所以充其量只能说是第几类的半导体罢了。这样的分类,主要是以半导体的能隙为依据,到了第三代的能隙,氮化镓为3.4 eV(电子伏特)、碳化矽为3.3 eV,远高于矽的1.1 eV。能隙越宽,半导体能够忍受的电场强度就越大,也就是元件能够在更高的电压下工作。而氧化镓的能隙达到了4.9 eV,这对于电源功率转换上是一大优势。然而单凭此宽能隙的特性,就能够无往不利了吗?

目前市面上有两家公司有能力提供4寸氧化镓的晶圆,分别是FLOSFIA以及Novel Crystal,这两家都是日本的新创公司,技术来源均来自于学校,分别是京都大学以及东京农工大学。FLOSFIA成立于2011主要投资者包括了DENSO、三菱重工以及安川电机;Novel Crystal创立于2015年,主要投资者是田村制作所(Tamura)。除了晶圆制作外,这两家公司也有磊晶成长的技术,使用的是hydrid VPE (HVPE)的方法。此法是利用氯化氢(HCl)气体与加热成液态的镓金属,反应形成的氯化镓气体,之后再与氧气反应形成氧化镓沉积在基板上。

氧化镓在晶圆以及磊晶的特性上均有不错的表现,另外在n-型半导体的掺杂,在不同浓度的杂质的需求上,也都可以符合元件制作的条件。然而要能制作出完整的功率元件,还需要p-型的掺杂以及氧化层作闸极的开关。氧化镓半导体p-型掺杂的活化能需要1 eV,是平常能接受数值的20倍以上,这几乎很难实现出可使用的p-型氧化镓半导体。p-型掺杂一直是宽能隙半导体的罩门,氮化镓如此,氧化镓更是困难。

另外氧化镓半导体已经是氧化物了,势必得找出能隙更宽的氧化物作为闸极材料来制作出功率晶体管;氧化铝(7 eV)变成了唯一的选择。高品质的氧化铝薄膜也是很难在元件制作过程中实现,尤其能隙越高的材料就越困难。最后既使氧化镓功率元件可以在实验室中制作出来,具有相当优质的崩溃电压,但是导通电阻却异常的高,这会影响了功率元件的电流密度、功率转换效率以及可靠度了。目前市面上有销售的氧化镓半导体元件,也只有萧特基二极管,因为该二极管是最简单的半导体元件,只要有n-型的掺杂以及金属,就完成了。

之前我们讨论过氮化镓第三代半导体,是最为梦幻的半导体了,因为氮化镓可制作出LED、半导体雷射、功率元件,甚至微波功率放大器等多种应用。然而造化弄人,氮化镓就是没有自己的基板,必须依托在别人的基板上生存,受到了很大的限制,这也是为什麽可以长出晶柱的氧化镓,一开始这麽受到关注的原因。然而科学家一直还没有放弃在这方面的努力,事实上有三项氮化镓基板技术还在进行中。

历史最久的方法是Ammonothermal(AT),是由波兰科学院的科学家所发展出来。需要在1,000个大气压以上的腔体成长,而成长的速度是每天只有100µm,目前可以长出两寸的氮化镓晶圆。另一个方法就是前述的HVPE,由于该法成长的速度可达每小时100µm,因此科学家利用长磊晶的方法来成长氮化镓晶圆,市面上已有6寸HVPE氮化镓晶圆,主要用于蓝光雷射的制作。三菱化学是目前能够提供氮化镓基板的主要供应商之一,最近宣布要将技术由HVPE转换为AT。相信是在工艺上有所突破,毕竟AT是在热平衡状态下所成长的晶体,因此晶圆的品质也会较佳。

第三项受到瞩目的技术是由日本住友电机与Soitec合作开发氮化镓smart cut。Soitec是法国微电子研究院所衍生新创的公司,而此smart cut技术被广泛运用在SOI (Si on insulator)的基板制作。此法首先将氢离子以离子布植的方式注入氮化镓的基板,深度约数个微米;然后面朝下与表面覆盖了二氧化矽的硅片结合,此结合为凡得瓦尔力的键结,非常牢靠,但需要施以压力与温度。此时再加温让氢在氮化镓内产生原子级的发泡膨胀,此力量会使数微米厚的氮化镓剥离开原基板,而均匀覆盖在二氧化矽上。由于二氧化矽是相对软的材料,因此不会产生界面应力,就像在切伊比利火腿般,高品质的数微米厚氮化镓就牢牢地呈现在硅片上,而这数微米厚的氮化镓就足够做半导体元件了。

越宽能隙的半导体是能够提供越高的操作电压,但以氧化镓为例,更宽的能隙后续是会衍生出不少在元件制作上的挑战,尤其在导通电阻及可靠性的问题。有些是可以靠工程的方式解决,有些却是基本的物理及化学。因此我个人直觉的认为,氮化镓及碳化矽能隙在3 eV附近是个甜蜜点。至于氧化镓是否能成为众所瞩目的第四代半导体,且拭目以待。

曾任中央大学电机系教授及系主任,后担任工研院电子光电所副所长及所长,2013年起投身产业界,曾担任汉民科技策略长、汉磊科技总经理及汉磊投资控股公司CEO。