三星High NA EUV测试传捷报 特定制程时间可缩减60% 智能应用 影音
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三星High NA EUV测试传捷报 特定制程时间可缩减60%

  • 范维君综合报导

传三星电子(Samsung Electronics)透过高数值孔径(High NA)极紫外光(EUV)微影设备,可将特定制程时间缩短60%,这项结果代表三星有望提升半导体生产效率,预期将High NA EUV用于2纳米以下制程。韩媒M...

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