品勋与是德共同举办元件电路分析技术研讨会

10/13台南沙仑绿能科技示范场域举办「元件电路分析与测试技术研讨会」。品勋科技

台南讯

品勋科技与是德科技将于10月13日在台南沙仑绿能科技示范场域举办「元件电路分析与测试技术研讨会」，将与业界的专家和学者携手，共同探讨如何在半导体设计中运用崭新的解决方案来优化元件的性能和耐用性。

在快速变迁的科技领域中，高效能半导体元件的设计和测试是追求创新和可靠性的关键。无论是探索微机电传感芯片，还是解决低功率IC的设计挑战，都需要深入分析元件的特性以及实际应用情境。为了解决这些多层面的问题，我们必须依赖先进的测试技术和解决方案。

特别邀请到南台科大邱裕中特聘教授担任讲师，分享在氮化镓（GaN）高电子迁移率晶体管（HEMTs）领域的专业见解，从元件的设计到测试，从性能评估到材料选择，从理论到实际应用，涵盖广泛的议题，以期帮助参与者更好的应对面临的技术挑战。

也邀请到宏汭精测林明正总经理分享如何利用先进的测试技术来确保在元件实际操作状态下的稳定性和效能。透过实际案例分析和最新技术分享，协助您更有效应对不断复杂的元件测试需求。本研讨会将与业界的专家和学者携手，共同探讨如何在半导体设计中运用崭新的解决方案来优化元件的性能和耐用性。立刻报名