Mentor推出Tessent Streaming Scan Network

如今，人工智能和自动驾驶等快速演进的应用对下一代IC的效能提出了更高需求， IC的设计规模正以前所未有的速度成长，将数十亿颗晶体管整合于一身的IC已不再是空谈。对IC工程团队来说，大规模的IC设计和更高的复杂度意味着，测试这些IC设计所需的时间和成本都在急剧增加，同时，为每个设计规划和部署DFT架构和功能所需的工作量也在成长。

为了协助芯片测试团队因应这些挑战，Mentor, a Siemens business为其Tessent TestKompress 软件推出了Tessent Streaming Scan Network技术。此解决方案包括嵌入式基础架构和自动化功能，可把模块级DFT需求从顶层可利用的测试资源中独立开来，实现无需妥协的层次化DFT流程，大幅简化DFT的规划和建置，同时将测试时间缩短4倍。此方案还完全支持区块设计，并针对相同内核进行了设计优化，是新兴运算架构的理想选择。

Mentor Tessent矽晶生命周期解决方案副总裁暨总经理Brady Benware表示，由于设计规模、先进技术节点和使用模型要求的持续增加，IC测试的复杂度也在大幅上升，这为IC设计团队带来了严苛挑战。借助于新的Tessent Streaming Scan Network，客户可以减少测试建置的工作量，降低制造测试成本，为未来的设计做好准备。

Tessent Streaming Scan Network软件采用以汇流排为基础的扫描数据分配架构，可同时测试任意数量的核心，进行高速的数据分配，有效处理核心之间的不平衡，并以固定成本测试任意数量的相同核心，从而实现测试时间的大幅缩短。该技术还在每个核心中提供了一个随插即用的界面，可以简化扫描的时序收敛，非常适用于相邻的区块。

该解决方案是由每个设计模块中的一系列主节点相互连接而组成。每个主节点会在模块中的网络和测试结构之间分配数据。此软件可自动执行建置、测试矢量产生和故障反向反映过程。DFT工程师可充分优化每个模块的DFT测试资源，无需担心对设计的其他部分造成影响，这将有助于减少建置的工作量。同时，此解决方案还透过对相同核心的优化处理、消除测试数据的浪费、以及时分复用技术(time multiplexing)，显着降低测试数据的数量，有效减少测试时间。

三星电子设计技术团队副总裁Sangyun Kim表示，透过在Tessent TestKompress中增加Tessent Streaming Scan Network技术，能为客户提供可扩充的测试接入解决方案，不论是当今还是未来的先进IC设计均可适用。Tessent Streaming Scan Network无需很高的工作量，便能使复杂设计具备高度的可测试性。

在Tessent TestKompress产品中增加Tessent Streaming Scan Network功能，是Mentor在先进阶层式DFT建置和测试数据带宽管理领域累积了十多年的研发成果，与多家半导体制造商合作开发了此项技术。

Tessent Streaming Scan Network可与其他的Tessent DFT产品完全兼容，并与Tessent Diagnosis具单元感知和布局感知的诊断相结合，以提供端到端的缺陷侦测和诊断解决方案。Tessent DFT的所有产品均属于Tessent Safe生态系统，并具有一整套通过认证的ISO 26262档档案，可用于所有的ASIL ISO 26262专案。