【半导体产业前瞻趋势论坛】AI芯片测试是「必要之恶」　国家仪器谈异质整合挑战

随着AI芯片制程技术日新月异，测试设备制造商美国国家仪器（NI）指出，很多人将测试环节看作「必要之恶」。客户为求产品正常运作，并符合其宣称的效能表现，反覆测试验证必不可少，但过程十分冗长，程序也很复杂，导致整体测试成本不断上涨。因此...

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