传ficonTEC出局矽光子测试 FormFactor、旺矽抢突破瓶颈 智能应用 影音
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【优立测】NI Test Forum 2026 (台北场)
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传ficonTEC出局矽光子测试 FormFactor、旺矽抢突破瓶颈

  • 王嘉瑜台北

随着AI数据中心传输正式跨入矽光子(SiPh)时代,然在共同封装光学(CPO)技术迈矢量产的路上,业界却面临「测不准也量不快」的严峻挑战,也使上游测试供应链的动态备受业界关注。其中,矽光子芯片测试设备所需的探针台,最初以美系大厂F...

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