安立知Field Master x Y.I.C EMI解决方案
- 孙昌华／台北
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Anritsu安立知与Y.I.C. Technologies合作开发创新工具，支持业界厂商预先执行电磁兼容性（EMC）测量。Anritsu安立知的新型Field Master频谱分析仪具有一流的扫描速度和连接界面，能与Y.I.C EMScanners和 EMViewer应用软件相辅相成，提供完全整合的解决方案。
开发先进电子产品的设计工程师面临着许多来自高速数据电路和射频（RF）元件的EMC挑战。高效的设计流程需要尽早了解电路的EMC性能。Y.I.C的扫描仪和EMViewer软件搭配Anritsu安立知的频谱分析仪，可提供所有辐射信号的独特三维(3D)热图；在提交产品给认证测试机构之前，可以先对电路布局和屏蔽材料进行最佳化，从而最大限度地提高首次通过的机率，减少重复提交。
Y.I.C. Technologies全球业务与代理经理Cornelle Roberts说：「我们的工作热情在于帮助工程师缩短排除 EMC挑战的时间。我们的解决方案现可兼容于Anritsu安立知Field Master频谱分析仪，透过与Anritsu安立知兼容的解决方案，我们共同提供了一种独特的方式来审视您的设计，并让您有机会在近场修复所有问题，这将确保在电波暗室中一次性通过测试。我们对此次合作感到非常兴奋，期待迎接所有Anritsu安立知用户加入我们的EMC大家庭。 」
EMC测试是产品开发中日益重要的一部分，尤其是在航太、国防和医疗电子市场。高效的产品开发需要专业的设计工具，Anritsu安立知很高兴能与Y.I.C Technologies合作，为这一市场提供高效的解决方案。
Anritsu安立知频谱分析仪产品经理Angus Robinson说：「Anritsu安立知很荣幸能与Y.I.C Technologies合作，帮助他们将创新解决方案推向市场。EMC测试是测试产业市场日益重要的一部分，而EMScanner 和EMViewer产品为我们共同的客户提供了前所未有的深度见解和速度。」
