精测首次加入SEMICON 力拱高端垂直探针卡
- 何致中/台北
晶圆测试探针卡、IC测试板大厂中华精测首次抢进SEMICON台湾半导体大展,将展出微机电垂直探针卡(MEMS Vertical Probe Card),用于检测手机应用处理器(AP)、射频(RF)等高速、高密度之先进制程晶圆。精测表示,...
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议题精选-2017 SEMICON
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