爱德万测试于SEMICON Korea展示最新测试解决方案

半导体测试设备领导供应商爱德万测试(Advantest Corporation)在1月31日至2月2日于首尔COEX会展中心盛大登场的SEMICON Korea展示创新测试解决方案。爱德万测试也将是今年度SEMICON Korea和期间产业领袖餐会(Industry Leadership Dinner)的白金级赞助商。餐会将于1月31日晚间举行。

爱德万测试将在位于C展馆的第510号摊位展示先进IC测试解决方案，包括专为次时代RF IC设计的V93000 Wave Scale平台、针对高速存储器IC测试的V93000 HSM16G系统，以及为显示器驱动IC(DDI)打造的T6391测试机台。爱德万测试在今年的展览摊位上将展示T2000平台的各种配置，譬如小型测试机台T2000 AiR，是为了因应物联网 (IoT) 装置量少但高度整合(Low Volume and High Mix)的系统级测试需求；为PMIC和24位元音讯解编码器测试需求所设计的T2000 IPS；用于高速CMOS影像传感器测试的T2000 ISS；以及T2000 RECT680 0.35mm pitch IC高端测试界面。

在创新测试解决方案方面，爱德万测试将展示由EVA100测量系统与HA7200组成的温度与压力测试单位，用于类比、数码和混合信号元件量产级测试；专为测试高效能通用快闪储存装置和固态硬盘(SSD)而设计，成本效益表现优异的T5851系统；以及瞄准SSD测试需求，富弹性的MPT3000系列测试机台。此外，爱德万测试大受好评的T5503系列也将于会上展出，该系列针对移动应用和服务器所使用之次时代存储器IC提供最佳解决方案。
除此之外，爱德万测试亦将展示探针卡、高速存储器装置界面以及电子束度量与微影解决方案，包括能满足1X纳米节点技术所需分辨率的F7000电子束微影工具，和E3310、E3640、E5610扫描式电子显微镜(SEM)度量系统。透过现场示范、数码图像说明和详细的产品展示，与会贵宾将能深入了解爱德万测试专为韩国市场打造的最新IC测试技术，以及通过严谨测试的解决方案。