爱德万针对新一代NAND快闪存储器预烧测试机

领先业界的半导体测试设备领导供应商爱德万测试推出最新一代B6700系列存储器预烧测试机的两组机种。B6700L和B6700S型号机种不但可降低测试成本，同时提高了服务器和移动数据储存应用环境的NAND快闪存储器测试能力。

「藉由扩充B6700系列产品的广度，我们为全球市场提供了更大的灵活性，以满足未来几年NAND快闪存储器三倍需求的成长量」 ，爱德万测试存储器事业体副总Takeo Miura指出。「公司新推出的两套大批量测试解决方案，将帮助客户从投资中获得更多回报，并保持与现有生产网络连接之便利性。」

系列中的初始机种– 也就是10月发布之B6700D – 设计上着重于平行操作， 通过预烧期间NAND快闪存储器设备的功能评估，新一代存储器装置之测试成本将大幅降低。与之前的系列产品相比，本系统的许多关键功能增加一倍，其中包括两倍的输入通道和电源容量以及双槽式设计。

新型B6700L测试机与B6700D相同的环境结构，并能适应更宽广的温度范围。设备能够在-40°C~150°C的范围内以0.1°C的增量进行温度控制测试，本系统适用于可靠性测试和汽车设备测试。B6700L可同时测试多达12组B6700D兼容特性的预烧板(BIB)和测试程序。

新的零占用空间B6700S系统针对NAND快闪存储器提供极低成本的测试解决方案，同时提供与其系列机种相同功能。B6700S可提供B6700D的单元化功能，并嵌入用于单晶圆等级测试的多晶圆探测系统中， 避免在实验室或生产环境中因占用空间所导致之相关成本。

B6700产品系列的所有机种皆使用相同的测试机板与操作系统，从而实现使用兼容性。支持故障区块存储器(BBM)、通用缓冲存储器(UBM)和数据样式存储器(DPM)功能以启动NAND设备测试。新上市的B6700L和B6700S测试机，计划在2019年第1季度开始发货。