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爱德万测试携手MultiLane开发可插拔的高速测试仪器

  • 林仁钧/台北

爱德万测试(Advantest Corporation)宣布与MultiLane Inc.携手合作,开发能扩大V93000平台效能的检测仪器,以更精省的成本,测试次世代数码高速接口。Multilane的仪器,可提供四阶脉冲振幅调变(PAM4)讯号高达112Gbps的测试资料速率;而在非归零(NRZ)资料格式下则可达56Gbps的速率,并具备50GHz带宽的波型分析(scope analysis)能力。

透过密切合作,发展出高度集成的解决方案,将高频信号源尽可能地靠近待测元件(DUT),并且大幅强化讯号完整性(signal integrity)和测试准确度。

爱德万测试与MultiLane结合各自资源,提供真正创新的解决方案,非常适合测试应用于资料中心、人工智能(AI)等应用的次世代元件。MultiLane贩售及支持的新仪器,将进一步提高V93000系统的数码与类比最高频率,达到发展最新通讯建设所需的关键等级。此次联手,打破传统自动化测试设备(ATE)解决方案的窠臼,使ATE DUT载板能搭配MultiLane高频率仪器来使用,以及在ATE上使用如同工作台(bench)的测量与特性分析(characterization)工具。

集成的软件环境保有工作台仪器原有的弹性与互动性佳的特点,同时又能在量产环境下控制及管理仪器。

爱德万测试ATE事业群V93000事业部执行副总Juergen Serrer表示:「MultiLane和爱德万测试的合作,使双方实力都有所成长与提升,为我们的客户提供资料中心与AI成长计画最为关键的宽频112-Gbps PAM4测试能力。」

MultiLane执行长Fadi Daou也指出:「MultiLane很荣幸能把我们的产品,带给采用爱德万测试公司半导体测试设备的客户群;也把V93000强大的功能组,介绍给MultiLane所经营的通讯相关客户群。随著我们的主要客户扩大集成的程度,V93000将提供他们更好的集成性功能,协助他们强化产品测试和加速上市时间。」