意法半导体推出功率测量范围更大的STM32 烧录除错器
- 赖品如／台北
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意法半导体（STMicroelectronics；ST）新推出之STLINK-V3PWR是一款在线除错烧录器，能够准确地测量在任何一款STM32微控制器（MCU）上运行的应用功耗。
该产品的宽动态测量能够处理物联网和无线应用等功耗敏感的开发专案，范围从奈安培（Nanoamp；nA）到500mA的电流值，而且准确度维持在±0.5%。此外，该产品使用一条USB线就可以为目标系统提供最高2A的电流，开发人员无需再单独连接一个电源为电路板供电。
STM32CubeMonitor-Power图形工具直接支持STLINK-V3PWR，能够实时图像化应用的功率需求量，分析设计变更对功耗的影响，以进一步提升效能。此外，ARM Keil 开发工具和 IAR 整合式开发环境（Integrated Development Environment；IDE）亦支持此产品，可同步执行程序码和测量功耗，以优化应用程序的能量配置。
ARM嵌入式技术资深总监Reinhard Keil表示，「超低功耗微控制器应用仰赖能量收集或电池工作长达数年，微小的设计失误都可能造成意想不到的耗能问题。新推出之STLINK-V3PWR除错烧录器让开发者能够使用Keil MDK分析功耗。这款µVision除错器可以将程序事件与功耗相关联，提供分析结果，协助开发人员识别潜在的设计错误，加倍延长电池续航时间。」
IAR技术长Anders Holmberg则表示，「IAR Embedded Workbench for ARM全面支持STLINK-V3PWR除错烧录器，使开发人员能够更快、更轻松地存取准确、可重复且具有高分辨率的功率分析结果。其必定将有助于下一代超低功耗和超高效智能联网装置达到更大的节能和效能，同时大幅加速新产品的上市时间。」
STLINK-V3PWR进一步强化意法半导体之注重功耗的嵌入式开发套件产品力。STM32 Power shield（X-NUCLEO-LPM01A），是一款动态电流测量范围100nA至50mA的可程序电源供应器，通常用于分析超低功耗STM32 MCU上运行之应用的功耗。此外，STM32L562E-DK探索套件中间的板上电表可测量300nA至 150mA的动态电流。而STM32CubeMonitor-Power透过这三款工具中的任何一个取得功率测量值，实时呈现数据，并更新采集到的电能参数。
身为微控制器的除错烧录器，STLINK-V3PWR透过单线除错（JTAG／SWD）界面与应用板上的STM32 MCU通讯，还有一个虚拟COM埠界面和一个多路径桥接器，能让主控制器利用SPI／UART／I2C／CAN
GPIO界面与目标微控制器通讯，以便在现场进行韧体更新以及功率测量。
