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芯测科技提供车用芯片存储器测试专用算法

  • 台北讯

智能型汽车对于安全行车、车联网、智能化、电动化等先进科技的需求,加速车用电子日新月异的跃进,使得车上装置电子化程度日益提高。汽车制造商不断地追求更多功能、稳定且安全需求,以及通过ISO 26262功能性安全标准认证的SoC设计,来生产符合现今消费者需求的车款。

而国际著名的市场研究机构Frost & Sullivan于2016年针对全球CEO调查未来车辆商业模式,发现「安全」为未来车辆主要关注和投入的项目,各家车厂也不断推出主/被动式安全辅助系统以因应多变的路况。为能确保车辆行驶时的环境分析,并提供预警或修正功能,先进驾驶辅助系统(Advanced Driver Assistance Systems;ADAS)为重要的基石之一。

为了迅速处理大量的信息,存储器的面积所占比例从1999年的20%,预估到了2020年,将成长到占比88%左右。而存储器比例增加,首先需要面对的就是存储器出错的机会也会相对的增加,除了需要有机制能够找出存储器的错误,更需要进一步能够进行存储器的修复,以保证芯片能够正常的运行。

因此,芯测科技(iSTART-Tek Inc.)提供车用芯片存储器测试专用算法,透过可配置性设定,协助使用者经过简单的设定,即可快速的产生存储器测试与修复电路。

根据研究指出车用电子相关芯片大多使用Multi-Port(Two-Port和Dual-Port)的静态随机存取存储器(SRAM)并且与车用电子相关程序多半以Burst Read和Write居多。因此芯测科技提出许多测试上述情况的车用电子专用算法在存储器测试电路开发环境中。这些算法所产生的存储器测试与修复电路,以硬件共享的方式减少电路面积,大幅降低测试成本并提升芯片良率,增加产品竞争力。