Tektronix OFC 2017最新光学测试创新技术

Tektronix展示 100G、400G 标准光学量测技术的最新发展，以及业界唯一支持多 OMA 系统的光学调变分析软件的端对端示范。

Tektronix在OFC 2017上展示为数据中心网络所开发的最新光学通讯测试技术，OFC 2017是专为全球顶尖的光学通讯和网络专业人士所举办的研讨会。

Tektronix高效能示波器总经理Brian Reich表示：「随着100G投入生产及400G设计工作全面展开，与矽晶和系统设计特性分析、验证和除错有关的测试挑战将日益严峻。OFC与会者将能亲眼目睹Tektronix正协助广大的客户不断挑战更高数据速率、新兴标准及尖端科技研发的极限，同时利用我们的高效能解决方案有效缩短产品上市的周期。」

数据中心网络技术提供商希望能不断提升高速数据传输的容量和精确度。Tektronix提供了一套可分析电气和光学效能特性的完善高效能解决方案，并在OFC进行展示，内容包括DSA8300取样示波器搭配80GHz光学取样模块，可支持针对TDECQ以IEEE 802.3bs为基础的 400G光学测试，包括适用于NRZ和PAM-4(高达28GBd)的高灵敏度单一模式？多模式光学量测。

DPO70000SX 70GHz ATI 高效能示波器，可利用适用于 400G 标准的实时触发和后等化错误侦测功能，分析单次 PAM-4 信号。

业界唯一支持多 OMA 系统之光学调变分析软件的端对端示范，包括AWG70000系列任意波形产生器及DPO70000SX示波器，适合空间分隔多工(Spatial Division Multiplexing)等应用。发布多种新品，将可推动下一代光学装置和互连装置的制造良率明显改善。