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产品/技术

MEMS麦克风于性能提升采下声孔封装相对有利 上声孔方式亦持续改良

3D NAND延续摩尔定律 电容耦合效应及可靠度仍为技术发展关键课题

原子层沉积适用于多层3D NAND Flash 然制程时间与成本增加为新课题

3D NAND Flash层数增加 于薄膜蒸镀制程面临生产效能与沉积层弯曲课题

Cell on Peri构造有利IDM提升3D NAND Flash竞争力 然良率与成本问题待解决

高整合与高效能兼顾 先进封装技术将朝WLSiP发展

手机链考量?技术分水岭抉择? 大陆半导体产业发展FD-SOI制程

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