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爱德万测试隆重发表2款最新云端解决方案

  • 陈其璐新竹

爱德万测试Advantest Corporation与PDF Solutions Inc携手合作,发表两款创新云端软件解决方案,一是爱德万测试V93000动态参数测试(Dynamic Parametric Test;DPT)系统,由PDF Exensio DPT提供技术支持;二是边缘高效能运算(HPC)系统,两者皆属于最新发布之爱德万测试云端解决方案 (Advantest Cloud Solutions;ACS)。该方案是提供以云端为基础的产品与服务之生态系,而其核心正是专注于数据与分析、由PDF Exensio提供技术支持的平台「爱德万测试云端」,也是由爱德万测试与PDF Solutions共同开发。

借重PDF Solutions开发的核心科技,就能运用客户工作流程中产生的数据,反过来对半导体从设计认证到制造、再到芯片组和系统级测试的各段流程提供回馈,客户便能从供应链、自家设备和测试数据汲取更多有价值的数据,并运用爱德万测试云端解决方案的算法、集成性工作流程与方法,缩短达成高良率所需的时间、提高整体设备效率。

不论是先进制成节点、电子微缩(electrical scaling)、2.5D与3D封装等半导体技术突破,还是关于系统方面的新焦点,对于业者而言都是挑战,唯有仰赖由软件引导的全面性解决方案才能克服。若可以将遍布于传统半导体价值链中的数据孤岛集成起来,能大幅提升产品质量、制造良率及成本效益。

由PDF Exensio DPT技术支持的爱德万测试V93000动态参数测试系统,是爱德万测试与PDF Solutions携手开发,为V93000 SMU8参数测试平台新增以规则为本的智能测试流程。这项科技,测试流程能在几毫秒内实时自动优化,以扩大裸晶测试范围、改善异常量测的特征(characterization)、纠正设备问题和简化额外信息收集,支持根本原因验证(root-cause identification)和下游分析(down-stream analytics)。

最新的先进高速边缘运算产品能执行复杂的测试负载,延迟仅毫秒之差,且能提供给早期采用者使用。有了为机器学习、解调或其它高效能负载而预先设定的容器,这套系统使得在半导体测试中执行机器学习变得更容易。除了方便客户透过云端追踪、管理和保管所有容器外,也让客户能藉由内建有顺向/逆向数据馈送之应用程序界面(API),来随选存取先前插入的数据。客户可以在生产过程中部署机器学习模型和算法、执行现地测试流程优化,亦能在保障数据安全的条件下远端管理高敏感度IP。

美国爱德万测试公司总裁暨CEODoug Lefever表示,爱德万测试不仅提供最先进的测试技术,为客户创造价值,亦持续开创新的企业实践、拓展我们的产品组合,推出迅速回应市场需求且有助客户节省成本的云端服务。我们将这样的创新视为爱德万测试宏观设计(Grand Design)目标的一环,进一步推升整体半导体价值链。