半导体测试设备供应商爱德万测试(Advantest Corporation)发表最新多功能、高产能H5620存储器测试机，能针对DRAM和LPDDR(低功耗双存取同步动态随机存取存储器) 装置进行预烧及存储器单元测试。

5G技术时代来临，全球DRAM位元消耗预估将在2023年近乎翻倍，而此波需求成长背后的主要推手，正是持续成长的数据处理和移动通信市场，不仅数据中心要求更多存储器，智能型手机分辨率升级、新增摺叠功能和多镜头设计等也是原因。随著存储器IC平均售价持续缩水，半导体制造厂不可免的需要缩减测试成本、扩大产量。

爱德万测试最新测试系统，能满足这样的需求。H5620在生产环境中，能以100-MHz频率和高达200Mbps的数据传输率，平行测试超过1.8万个元件。此外，H5620能因应工厂自动化需求，还有具备个别热控制稳定度的双温箱结构，支持从-10°C~150°C大温度范围测试。另外，新系统结合原有存储器单元测试与存储器生产设备的预烧测试流程，不仅有助客户降低资本支出，也能节省工厂空间。

爱德万测试存储器自动化测试设备事业群副总Takeo Miura表示，这款测试机兼顾优异生产力与低廉测试成本，为检验现今最新DRAM元件的测试标准树立了新标竿。

H5620使用具备多元工具组合的FutureSuite操作系统。有了这套软件，测试机很容易能与爱德万测试原本的存储器测试系统兼容。另外，爱德万测试全球支持网也能立即提供客户在程序编码、除错、关联性分析和维修等方面的协助。最新H5620测试机台已开始出货给客户，H5620ES工程模型也将于2020年第2季准备就绪。