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爱德万测试针对T2000测试平台推出最新影像撷取模块

  • 陈其璐台北

爱德万测试发表最新模块,强化T2000平台对智能型手机D-PHY、C-PHY影像IC测试能力。多功能模块为D-PHY IC提供业界最快撷取速度并针对先进C-PHY元件首创64接点测试解决方案。

爱德万测试Advantest Corporation推出针对旗下T2000测试平台之最新高速CMOS影像撷取模块,允许同时测试64个同时拥有D-PHY与C-PHY传输界面之智能型手机元件。最新T2000 4.8-Gbps CMOS影像撷取模块,又称作4.8GICAP,这样的设计能有效率地传输来自CMOS影像传感器 (CIS)数据到T2000高性能影像处理器引擎 (IPE),也是首款量产的测试解决方案,可为C-PHY v1.2版元件提供最高3.5 Gsps的撷取速度;并为D-PHY v2.1版元件提供业界最快4.8 Gbps的撷取速度。

据估计,现今生产的CIS元件有75%都用于智能型手机相机。爱德万测试研究指出,鉴于最新一代的智能型手机都主打多镜头,预料CIS产量在未来4年将成长约41%。再加上最新CIS元件具备有约1亿像素的超高分辨率,这些因素再再推升业者对于测试解决方案的需求,不仅要能处理空前的数据量,还要能高速运行,才能以更高的成本效益服务快速扩张的智能型手机市场。

4.8GICAP模块搭配爱德万测试第3代IPE,透过双存储器库机制能在撷取影像数据的同时传输数据给IPE,这将大幅缩短测试时间。

这款模块设计安装于T2000 ISS测试机,具备完整兼容的测试程序、探针机、光源机和装置界面。能同时测试64个拥有MIPI标准D-PHY与最新C-PHY传输界面之元件,透过高速数据传输线提供业界领先的效能。

功能多元的T2000测试平台帮助客户能以最低资本支出,快速因应变化万千的市场需求,同时又缩短新设计的开发时程。其模块化结构最适合因应新时代元件的需求。爱德万测试T2000事业单位副总Toshiaki Adachi表示,爱德万测试创造出能处理更大量数据传输和更快速之CIS元件的量测环境,协助智能型手机相机市场提升成本效益。4.8GICAP模块已开始出货给多家重要客户。