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Tektronix 推出 S530 系列参数测试系统

  • 周建勋台北

测试与量测解决方案供应商Tektronix公司发布了新款Keithley S530系列参数测试系统,以及KTE 7软件和其它增强功能。S530平台使半导体制造厂能为高速成长的新技术增添参数测试能力,同时有效地降低CAPEX投资,并显著地提升每小时晶圆产量。总体拥有成本随之降低后,将有助于制造商在竞争激烈的新市场中因应庞大的价格压力。

奠基于新兴宽频带间隙(WBG)技术的新型半导体产品(如GaN和SiC)有望达成更快的切换速度、更宽的温度范围、更好的电源效率以及其它优势。为了满足这些产品的测试需求,以KTE 7为基础的S530平台提供了实验室等级的量测效能,以及最短的设定和测试时间。随著新应用的出现和需求的变化,高达1100V的高速、全弹性的解决方案亦应运而生。这使芯片制造商能够以最少的投资,在单一系统上利用最短的测试/设定时间,经济高效地将其扩展至高速成长的电源和WBG装置(包括汽车市场)中。

Tektronix S530系列参数测试系统搭配KTE 7软件以支持宽频带间隙(WBG)制造。

Keithley/Tektronix副总裁兼总经理Chris Bohn表示:「类比和混合讯号半导体制造商在5G通讯、汽车、物联网、医疗、绿色能源和其它市场中不断面临各种新型最终用途应用的旺盛需求。这个重要的测试平台更新有助于这些客户能更快速、更具成本效益地将新产品推向市场,同时使他们能够灵活地适应未来的新需求。」

S530系列的创新功能可在广泛的产品组合中显著提升测试仪的利用率,并轻松迁移现有的测试软件、探棒卡和其它产品,同时提供完整的资料关联性、有效提升测试速度。S530-HV机型能够在任何针脚上测试高达1100V的电压,与电源和WBG应用中的其它竞争系统相较,可将输送量提高50%以上。

芯片制造商可以使用单一系统测试多种产品组合,包括根据IATF-16949质量管理标准的汽车产品。客户可在内部进行校验以尽可能地降低停机时间,也可以透过Tektronix的服务机构完成校验,享有全球高质量个人支持服务。

以KTE7为基础的平台为半导体制造商提供了从传统S600和S400系统的最简单且最具成本效益的迁移途径,不仅可保持完整的资料关联性,且输送量较S600更快25%。在系统校准期间,新型5880-SRU系统参考单元会自动切换所有直流和交流参考标准,无需手动连接、中断和重新连接。这种完全自动化的过程有效地减少了系统停机时间,并减少了执行校验时的支持成本,进而降低产品的拥有成本(COO)。