思达宣布全球首款量产型微间距大电流MEMS垂直探针卡上市

Aries Optima全球首款应用在量产制造的微间距大电流MEMS垂直探针卡。

半导体测试系统与探针卡知名厂商-思达科技宣布，推出牡羊座Aries Optima MEMS探针卡，是全球首款应用在大量制造的微间距大电流MEMS垂直探针卡。Aries Optima是MEMS探针卡技术的最新巅峰，不仅制订新标准，满足了晶圆级测试的新需求，且进而促使思达科技成为MEMS探针卡技术的市场领导供应商。

10多年来，思达科技致力在开发以及部署高价值的垂直探针技术，研发了一套系统和方法，以快速适应市场兴起的需求。思达科技在过去20年间定期推出新产品，满足不断变化、各方面的市场需求，持续实践对于半导体测试业界的承诺，包括增进测试效率、降低测试成本，以及测试精确度的优化、达成最佳市场价值等等。

Aries Optima系列的MEMS垂直探针卡，其设计除了满足不断发展的大电流需求外，探针间距也降至45um，可将投资报酬最大化且减少支出，具有更高的价值。思达拥有量产的MEMS探针，承载能力为550mA，适用于标准应用；在汽车和高功率方面，则可达700mA、最高至摄氏150度。

根据半导体市调机构VLSI的报告，受惠于景气回温，其5G扩展、IT基础建设等，推升芯片需求持续成长。这些市场因素驱动MEMS技术更加重视生产效率、减少测试时间与成本，市占率也正逐渐提高。相较于传统的Cobra探针，Aries Optima系列稳定的DC和漏电流表现，非常适合应用在RF、AP、高功率等等的测试。

思达科技CEO刘俊良博士表示：「Aries Optima探针卡是全球第一张微间距MEMS垂直探针卡，支持大电流测试，同时减少客户端的测试频率、时间、人力成本等，是下一个时代半导体测试的最佳选择。」