【专家观点】揭密紫光雷射法 突破半导体的检测瓶颈
- 台湾西克／专栏
半导体前段检测中属于裸晶类型的产品，基于特殊的表面反光性质而使得检测流程具有一定困难度，为此各大AOI检测设备业者也积极地寻找新的解决方案。
在半导体检测中，往往因不同表面性质的基板而造成检测上的误差，...
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