Tektronix 推出 S530 系列参数测试系统

测试与量测解决方案供应商Tektronix公司发布了新款Keithley S530系列参数测试系统，以及KTE 7软件和其他增强功能。S530平台使半导体制造厂能为高速成长的新技术增添参数测试能力，同时有效地降低CAPEX投资，并显着地提升每小时晶圆产量。总体拥有成本随之降低后，将有助于制造商在竞争激烈的新市场中因应庞大的价格压力。

奠基于新兴宽频带间隙(WBG)技术的新型半导体产品(如GaN和SiC)有望达成更快的切换速度、更宽的温度范围、更好的电源效率以及其他优势。为了满足这些产品的测试需求，以KTE 7为基础的S530平台提供了实验室等级的量测效能，以及最短的设定和测试时间。随着新应用的出现和需求的变化，高达1100V的高速、全弹性的解决方案亦应运而生。这使芯片制造商能够以最少的投资，在单一系统上利用最短的测试／设定时间，经济高效地将其扩展至高速成长的电源和WBG装置(包括汽车市场)中。

Keithley/Tektronix副总裁兼总经理Chris Bohn表示：「类比和混合信号半导体制造商在5G通讯、汽车、物联网、医疗、绿色能源和其他市场中不断面临各种新型最终用途应用的旺盛需求。这个重要的测试平台更新有助于这些客户能更快速、更具成本效益地将新产品推向市场，同时使他们能够灵活地适应未来的新需求。」

S530系列的创新功能可在广泛的产品组合中显着提升测试仪的利用率，并轻松迁移现有的测试软件、探棒卡和其他产品，同时提供完整的数据关联性、有效提升测试速度。S530-HV机型能够在任何针脚上测试高达1100V的电压，与电源和WBG应用中的其他竞争系统相较，可将输送量提高50%以上。

芯片制造商可以使用单一系统测试多种产品组合，包括根据IATF-16949品质管理标准的汽车产品。客户可在内部进行校验以尽可能地降低停机时间，也可以透过Tektronix的服务机构完成校验，享有全球高品质个人支持服务。

以KTE7为基础的平台为半导体制造商提供了从传统S600和S400系统的最简单且最具成本效益的迁移途径，不仅可保持完整的数据关联性，且输送量较S600更快25%。在系统校准期间，新型5880-SRU系统参考单元会自动切换所有直流和交流参考标准，无需手动连接、中断和重新连接。这种完全自动化的过程有效地减少了系统停机时间，并减少了执行校验时的支持成本，进而降低产品的拥有成本(COO)。